AMETEK FAST SDD 檢測器這款硅漂移探測器(SDD,Silicon Drift Detector)專門為RF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測器應用而設計,提供窗口材料的選擇，從鈹（8μm）到薄型聚合物（用于輕型透射）,并提供10mm2至60mm2的傳感器有源區域. 此外,所有或我們的SEM SDD版本都是無振動的。
SDD探測器
IXRF電制冷（LN-free）硅漂移探測器與具有**性的、基于以太網的數字脈沖處理器相結合后，在探測范圍上更加具有優勢。根據用戶的不同需求來進行配置，IXRF SDD探測器能夠在一個較大的輸入計數率范圍內快速生成X射線圖，并且性能穩定。SDD探測器既可以作為EDS的探頭，也可以作為XRF的探頭。窗口材料的選擇范圍為鈹(8微米)到聚合物薄膜(輕元素)，探測器有效面積有10mm2、30mm2、60 mm2三種。此外，SDD還可以免費升級。
AMETEK FAST SDD 檢測器的參數
| 型號 | 有效面積 | 窗口類型 | 分辨率 |
| SDD2310 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≥123 |
| SDD2710 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤127 |
| SDD2810 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤128 |
| SDD2830 | 30mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤128 |
| SDD3030 | 30mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤130 |
| SDD3360 | 60mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤133 |
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