涂層介電常數測試儀涂層介電常數測試儀

性能特點4.3寸TFT液晶顯示中英文可選操作界面高1MHz的測試頻率，10mHz分辨率

GDAT-S 的短路校正功能能消除與被測元件相串聯的寄生阻抗（R, X）造成的誤差。

移動光標至短路設定域，屏幕軟鍵區顯示下列軟鍵。

短路校正功能操作步驟短路校正包括采用插入計算法的全頻短路校正和對所設定的2 個頻率點進行的單頻短路校正。執行下列操作步驟利用插入計算法對全頻率進行短路校正。

按軟鍵 關 ，關閉開路校正功能。以后的測量過程中將不再進行開路校正的計算。短路校正

使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置電流可達120A。

一、  概述

介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

二、  測試原理

采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。