產品簡介：
        傳統光器件和光模塊的光損耗測試一般有兩種方法：采用自己搭建的步進式測試方案或完整的集成式掃描系統。前者由于自身系統的限制，很難滿足光傳遞過程中連續掃描測試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統的價格和擴展性較差，也很難被用戶所接受。 
        CT-400采用*的設計理念，克服了兩種測試方法的缺點，形成了業界zui為完整的、緊湊型的光損耗測試方案，這種方案價格低，波長范圍寬，可以在很寬的光譜范圍內對光器件和光模塊的光功率、光波長、光損耗和光偏振進行精確測試。
產品特點：                                                     產品應用：
         可連接4個可調諧激光器；                            光功率測試；
         支持多個連續掃描；                                       光損耗測試；
         測量精度高，測量速度快；                           光波長測試；
         體積小、價格便宜；                                       光偏振測試；