布魯克(原Veeco)Contour GT-k1 Veeco光學(xué)輪廓儀 3D光學(xué)顯微鏡
參考價 | ¥ 14 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 北京華躍英泰科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 布魯克(原Veeco)Contour GT-k1
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/2/27 18:31:47
- 訪問次數(shù) 2792
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利用超過業(yè)界zui大視野zui高垂直分辨率,達到的測量性能
■ 從0.5倍到200倍的放大率能夠表示大范圍樣品表面形狀與結(jié)構(gòu)特征
■ 任意放大率下亞埃米到毫米垂直范圍能提供的測量靈活性
■ 高分辨率相機選項提高橫向分辨率,增加R&R測量性能
運用Vision64™軟件的64-Bit, 多核處理器可加速3D表面測量和分析
■ 型結(jié)構(gòu)產(chǎn)量功能可大幅增加應(yīng)用數(shù)據(jù)處理能力
■ 運用多核優(yōu)化和其他技術(shù)的并行處理功能,可以提供高達10倍的判斷性計量分析輸出量
■ 的拼接性能無間斷地將大量單獨數(shù)據(jù)綜合設(shè)置成一個連續(xù)圖像
生產(chǎn)環(huán)境中提高可靠性和可重復(fù)性的*計量硬件
■ 超高亮度LED雙源照明系統(tǒng)提供的測量質(zhì)量放大率撓度
■ 優(yōu)化硬件設(shè)計可提供震動偏差R&R測量
■ 選擇模式中自動化自校準功能可獲得工具間相關(guān)性和測量準確可靠性
高度直觀用戶平臺,擁有zui*易用性,自動化和分析能力
■ 簡易高效用戶界面簡化測量與數(shù)據(jù)采集操作,提高人機工作效率
■ *可視工作流程工具可直觀獲得過濾和分析選項擴展庫
■ 為客戶具體要求設(shè)置客戶報告提煉分析數(shù)據(jù)功能