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CSK-IIIA超聲波標準試塊 1.游標卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
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超聲波探傷標準試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業X光膠片 JB行業標準試塊 GB國家標準試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標準試塊與其他*標準試塊 工業恒溫洗片機、干片機 進口 超聲波耦合劑 其它
產品簡介
詳細介紹
CSK-IIIA超聲波標準試塊
型號:CSK-IIIA
材質:20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關 |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結果 | 材質均勻,無雜質,無影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質符合GB/T699-1999（優質碳素結構鋼）標準要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級 | |||
備注:校準（檢驗）所用主要計量標準器
1.游標卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標準試塊