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省去測座旋轉定位時間PH20五軸Renishaw
閱讀：694 發布時間：2020-12-4省去測座旋轉定位時間PH20五軸Renishaw
當以5 mm/s - 10 mm/s的速度掃描50 mm環規時，一般形狀誤差小于10 µm（過濾），直徑誤差為5 µm。當檢測相同的環規時，觸發式測量通常產生3 µm形狀和直徑誤差。
可從REVO的A軸旋轉中心軸向延長達800 mm，側向延長達600 mm。
長加長桿與五軸運動相結合，可以更好地觸測工件；多傳感器交互功能，增強了靈活性。
傳統觸發測量方法依靠加快坐標測量機的三軸運動速度進行快速測量，PH20與之不同，它采用為REVO系統（曾獲得多項殊榮）開發的測座運動技術，可在較高的測量速度下將坐標測量機的動態誤差降至。
PH20*的“測座碰觸”可以僅通過移動測座而不是坐標測量機結構，來采集測量點。可以更快地采集測量點，并且提高了精度和可重復性。
此外，五軸聯動可省去測座旋轉定位時間。綜合上述因素，這些速度的顯著提高使得新系統的測量效率比傳統系統提高了兩倍。
為PH20開發的*“推論標定”技術可一次確定測座方向和測頭位置，從而實現以任意測座角度完成后續測量。其他模塊在使用之前，只需簡單在標準球上測量幾個點即可。（如果需要提高測量精度，可循待測特征的方向單獨進行測尖校正）。
由于為符合質量管理程序或在測頭碰撞后，定期重復進行標定過程，因此日積月累，可以節省大量的時間。