SYSTESTER思克THI-1801測厚儀,不僅用于電池隔膜、薄膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度測量，還用于太陽能電池硅片、紙張、膠帶、箔片、硅片等各種材料的厚度測量，是一款超高測試誤差的全自動測厚儀，測厚儀被廣泛應用于質檢機構、薄膜生產(chǎn)廠家、光伏廠等單位。

THI-1801測厚儀原理：

采用機械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。

厚度是電池隔膜隔膜最基本的特性之一，其要求的厚度均勻性與所有薄膜生產(chǎn)公司如出一轍，可謂永恒追求的質量指標，會直接影響隔膜卷的外觀質量以及內在性能，因此是生產(chǎn)過程中需嚴加控制的質量指標之一。隔膜厚度的均勻性包括縱向厚度的均勻和橫向厚度的均勻，但比較而言，橫向厚度均勻性更為重要，一般必須控制在1um以內。

THI-1801測厚儀

THI-1801測厚儀操作步驟：

1.試樣條件調節(jié)，狀態(tài)調節(jié)時間和環(huán)境應按被測材料的規(guī)范。

2.試樣和厚度測量儀的各測量面無油污、灰塵等污染。

3.測量前應檢查薄片測厚儀零點，在每組試樣測量后應重新檢查其零點。

4.測量時應平緩放下測頭，避免試樣變形。

5.按等分試樣長度的方法以確定測量厚度的位置點，方法如下：

A.試樣長度在≤300mm,測10點

B.試樣長度在300mm~1500mm,測20點

C. 試樣長度在≥1500mm,至少測30點

對未裁邊的樣品，應在距邊50mm開始測量。