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詳細摘要： 雙晶探頭裝有兩個晶片的探頭，一個作為發射器，另一個作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯合雙探頭。雙晶探 頭主要由插座、外殼、隔聲層、發射晶片、接收晶片、延遲塊等組...

詳細摘要： 水浸式探頭水浸式探頭，通常用于半自動或者自動化探傷系統中。工件和探頭浸入水中，探頭與工件的檢測面之間保持一定距離的“水延遲"。探頭并不直接接觸工件，因此不規則的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-174-2006水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-174-9700水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-074-2906水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： B2S（57745）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B1S-EN（500035）保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B2S-EN（500036）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器...

詳細摘要： B1S（57744）保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼體

詳細摘要： B4S（57746）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B4S-EN（500037）美國GE保護膜探頭B4S-EN應用：B4S-EN配套USM88;B4S-EN配套USM36;B4S-EN配套USMGO+;B4S-E...

詳細摘要： 內置前放型聲發射傳感器型　　號：AE144SA40-BNC/AE304SA40-BNC...外形尺寸：23.5mm*39.5mm...產品重量：56g...富士...

詳細摘要： AE503S AE504S AE105S富士聲發射傳感器諧振式聲發射傳感器:AE303S；AE503S；AE104S；AE144S；AE204S；AE304S；...

詳細摘要： M109-RM M109-SM接觸式探頭50.513M109-RM，M109-SMU8400027，U8400028

詳細摘要： TOFD探頭 SIUI汕超TOFD探頭TOFD探頭 STOFD探頭配合相應的楔塊可在鋼等被檢材料中產生需要的折射縱波，利用這些縱波通過衍射時差技術對材料中的裂紋...

詳細摘要： 直探頭斜探頭窄脈沖探頭分割式探頭水浸探頭高性能工業超聲檢測探頭 SIUI向用戶提供超過500種以上的工業超聲探頭產品，包括相控陣探頭、直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭...

詳細摘要： TOFD探頭 TOFD探頭 TOFD探頭汕頭“超聲電子"*新推出高分辨率縱波探頭,產品性能指標達到先*水平（包括振蕩周期在一個半周期以內），特別適合TOFD檢測...

詳細摘要： BH-50汕超BH-50回波探頭由直探頭+延遲塊組合而成，用于儀器的性能檢查。回波探頭直接連接到超聲波探傷儀，產生 50mm 鋼聲程的多次回波。

詳細摘要： 直探頭 斜探頭 小徑管探頭 分割式探頭SIUI向用戶提供超過500種以上的工業超聲探頭產品，包括相控陣探頭、直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚...

詳細摘要： 復合材料探頭使用高性能的壓電復合材料，在提升靈敏度的同時也帶來更好的信噪比。在各種粗晶及纖維結構等高衰減比傳統壓電晶片探頭擁有更高的穿透力，脈沖寬度更短使得縱向...