新技術的采用和精細的設計

ZSXPrimusIV的各組件都使用著先端的要素技術，具有要求高精細的研究，和對大量測量的日常質量。

一次X射線濾光片

X射線濾光片設置在X射線光管和樣品之間，用于減輕X射線光管發出的連續X射線或特征X射線對分析譜線的妨礙。

不需要PR氣體的S-PCLE

可以選配測量輕元素的氣體封閉型正比計數器(S-PC LE)。方便在難以購置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測器時，必須使用檢測器用氣體(PR氣體)

散射線SQX

推定樣品中非測量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響，使用散射線強度來實現。污泥、水垢等含有非測量成分的樣品，不做非測量成分設定便可進行更加準確的近似定量分析。

高靈敏度彎晶

使用在SQX程序中，提高無標樣定量分析的靈敏度?？膳渲肞ET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對P、S的靈敏度提高了30%；高靈敏度PRT彎晶與平晶相比，Al、Si的靈敏度提高了30%。

液體樣品盒自動識別機構

液體樣品盒自動識別機構，避免液體樣品盒在真空狀態下進入樣品室，從而放心地測量液體樣品。分析液體樣品時，樣品室需要置換成He氣氛圍。

液體樣品分析用真空封擋系統

在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時間。

硬件安全、維護方便、軟件安心

操作失誤會導致儀器損壞，高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設計，采用上照射方式，即便粉末樣品發生粉末飛散也不會損壞儀器。設計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。