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2016
12-30

掃描電鏡介紹
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來(lái)迅速發(fā)展起來(lái)的一種新型的電子光學(xué)儀器。由于它具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)，故被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見(jiàn)、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空
2016
07-11

透射及掃描電鏡的操作方法
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?、了解透射電鏡、掃描電鏡各部件的名稱、結(jié)構(gòu)及性能;2、了解透射及掃描電鏡的基本操作程序;3、了解電鏡樣品制備的配套設(shè)備。二、實(shí)驗(yàn)儀器及用品：透射電鏡;掃描電鏡;小白鼠肝臟超薄切片;酵母菌或乳酸桿菌的負(fù)染樣品;噴好金膜的葉片及花粉樣品三、方法步驟：(一)透射電鏡操作規(guī)程：1、本儀器的操作者必須熟悉儀器的全部操作規(guī)程，通過(guò)操作考試后才能正式上機(jī)操作。2、操作程序1)開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備(1)合上總電源閘刀，開(kāi)啟電子交流穩(wěn)壓器，電壓指示應(yīng)為220V。開(kāi)啟循環(huán)水，溫度指示應(yīng)為15-20℃。(2)開(kāi)啟
2016
06-14

掃描電鏡原理
掃描電子顯微鏡的設(shè)計(jì)思想和工作原理，早在1935年便已被提出來(lái)了。1942年，英國(guó)首先制成一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時(shí)間太長(zhǎng)，所以實(shí)用價(jià)值不大。經(jīng)過(guò)各國(guó)科學(xué)工作者的努力，尤其是隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的不斷發(fā)展，到1956年開(kāi)始生產(chǎn)商品掃描電鏡。近數(shù)十年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中，促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。一.掃描電鏡的特點(diǎn)和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：(一)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm
2016
06-06

激光共聚焦顯微鏡和掃描電鏡的區(qū)別
激光共聚焦顯微鏡和掃描電鏡的區(qū)別激光共聚焦顯微鏡和掃描電鏡都是點(diǎn)源逐點(diǎn)掃描成像，通過(guò)控制掃描驅(qū)動(dòng)范圍，調(diào)節(jié)放大倍數(shù)。激光共聚焦顯微鏡是通過(guò)激光掃描的方式工作，可以獲得三維圖像。掃描電鏡是利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來(lái)的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像的，只能得到二維圖像，不能得到三維圖像。1、極限分辨率不同（放大信號(hào)源不同）激光共聚焦：極限分辨率150nm掃描電鏡：20nm~0.8nm2、掃描驅(qū)動(dòng)方式不同激光共聚焦：激光轉(zhuǎn)鏡控制激光掃描范圍和掃描速度掃描電鏡：電磁線圈控制電子束掃描范圍和掃描速度
2016
05-20

臺(tái)式掃描電鏡飛納 Phenom 在德米特成功安裝驗(yàn)收
臺(tái)式掃描電鏡飛納Phenom在德米特成功安裝驗(yàn)收。飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡繼續(xù)*臺(tái)式掃描電鏡市場(chǎng)，飛納電鏡系列產(chǎn)品來(lái)自歐洲四大高科技聚居地之一——荷蘭的的埃因霍溫，飛納Phenom的工廠就設(shè)在這里。從一開(kāi)始就專注于臺(tái)式掃描電鏡領(lǐng)域，來(lái)源于專注，2015年，PW推出第4代產(chǎn)品，分辨率達(dá)到14納米，放大倍率13萬(wàn)倍，并推出了飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版PhenomXL，不僅延續(xù)了飛納臺(tái)式掃描電鏡系列的產(chǎn)品簡(jiǎn)單的操作方式，在此基礎(chǔ)上，實(shí)現(xiàn)了更大的樣品倉(cāng)，樣品倉(cāng)尺寸高達(dá)100mmX100mmX65mm，一次
2016
05-19

PhenomPro掃描式電子顯微鏡
掃描式電子顯微鏡（SEM）是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。PhenomPro（掃描式電子顯微鏡）是Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號(hào)，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無(wú)憂
2016
05-13

自動(dòng)拼圖軟件（AIM）在SEM大景深樣品拍攝中的應(yīng)用
自動(dòng)拼圖軟件（AIM）在SEM大景深樣品拍攝中的應(yīng)用圖1自動(dòng)拼圖軟件界面自動(dòng)拼圖（AutomatedImageMapping）軟件（圖1）選件是飛納電鏡的又一功能強(qiáng)大的實(shí)用軟件。其主要優(yōu)勢(shì)總結(jié)如下：大范圍內(nèi)自動(dòng)收集多張圖片生成大面積視野的圖片自動(dòng)生成高分辨率、高清晰度大圖操作簡(jiǎn)單，“選擇區(qū)域”然后“掃描”即完成以下舉例說(shuō)明其各個(gè)優(yōu)勢(shì)及其應(yīng)用場(chǎng)合：大范圍多張圖片的收集對(duì)于ParticleMetric顆粒系統(tǒng)、PoroMetric孔洞系統(tǒng)的作用下圖2(a)是顆粒樣品的AIM拼圖結(jié)果，這張圖的分辨率達(dá)
2016
05-12

飛納臺(tái)式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開(kāi)辟新路
飛納臺(tái)式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開(kāi)辟新路光子晶體光纖（PhotonicCrystalFibers，PCF）又稱為微結(jié)構(gòu)光纖（Micro-StructuredFibers，MSF），這種光纖的橫截面上有較復(fù)雜的折射率分布，通常含有不同排列形式的小孔，如圖1所示。這些小孔的尺度與光波波長(zhǎng)大致在同一量級(jí)且貫穿器件的整個(gè)長(zhǎng)度，光波可以被限制在低折射率的光纖芯區(qū)傳播。圖1不同結(jié)構(gòu)的光子晶體光纖光子晶體光纖（微結(jié)構(gòu)光纖）按照其導(dǎo)光機(jī)理可以分為兩大類：折射率導(dǎo)光型（IG-PCF）和帶隙引導(dǎo)型（PCF）。折射
2016
05-11

高倍光學(xué)電子顯微鏡
高倍光學(xué)電子顯微鏡飛納熒光掃描電鏡一體機(jī)Delphi（德飛），是飛納掃描電鏡制造商荷蘭Phenomworld公司與熒光顯微鏡制造商荷蘭Delmic于2014年聯(lián)合推出的*款將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設(shè)備。借助該設(shè)備，用戶可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起，觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過(guò)程，定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件。通過(guò)在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)得到樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的信息。簡(jiǎn)單地說(shuō)，Delphi（德飛）就是底部裝
2016
04-27

掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)知識(shí)
掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是zui主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序作柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其它物理信號(hào))，二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放
2016
04-26

全自動(dòng)掃描電子顯微鏡優(yōu)劣評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)
第四代PhenomPure+是一款使用高亮度CeB6燈絲的高分辨臺(tái)式全自動(dòng)掃描電子顯微鏡鏡。放大倍數(shù)65,000倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度CeB6燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，PhenomPro的分辨率輕松達(dá)到25nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點(diǎn)。納臺(tái)式掃描電鏡在中國(guó)市場(chǎng)的推廣和銷售，提供專業(yè)的和測(cè)試服務(wù)，飛納中國(guó)擁有*的服務(wù)團(tuán)隊(duì)，提供*化的解決方案；飛納中國(guó)提出飛納學(xué)校（PhenomUniversity）的概念，為用戶提供從
2016
04-19

Phenom半導(dǎo)體電子顯微鏡主要特點(diǎn)
飛納(Phenom)半導(dǎo)體電子顯微鏡主要特點(diǎn)一長(zhǎng)壽命/高亮度/低色差CeB6燈絲。一表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖片。一內(nèi)置彩色光學(xué)顯微鏡。一自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)。一30秒快速成像，操作簡(jiǎn)單。一光學(xué)與低倍電子雙重導(dǎo)航。一防震設(shè)計(jì)，對(duì)放置環(huán)境無(wú)牛條殊要求。一樣品倉(cāng)低真空技術(shù)，直接觀測(cè)絕緣體，需噴金。一四分割高靈敏度背散射電子探頭，兼得樣品表面形貌與成份信息。半導(dǎo)體電子顯微鏡觀測(cè)材料、礦物、生物樣品、器件透射電子顯微象及電子衍射圖，對(duì)樣品微觀組織、結(jié)構(gòu)、缺陷等定性、定量分析。可對(duì)樣品在加熱、拉伸、電子輻照等條件下
2016
04-12

掃描電子顯微鏡的工作原理
(SEM)掃描電子顯微鏡的設(shè)計(jì)思想和工作原理，早在1935年便已被提出來(lái)了。1942年，英國(guó)首先制成一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時(shí)間太長(zhǎng)，所以實(shí)用價(jià)值不大。經(jīng)過(guò)各國(guó)科學(xué)工作者的努力，尤其是隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的不斷發(fā)展，到1956年開(kāi)始生產(chǎn)商品掃描電鏡。近數(shù)十年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中，促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。一.掃描電鏡的特點(diǎn)和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)：(一)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm
2016
03-29

生物顯微鏡使用注意事項(xiàng)
生物顯微鏡現(xiàn)在已經(jīng)成為很多行業(yè)實(shí)驗(yàn)的必須品，但是他的成像問(wèn)題一直是被大家所擔(dān)心的，生物顯微鏡的成像質(zhì)量會(huì)受到各類像差的影響，除了像差以外，使用時(shí)的操作也會(huì)影響到成像的質(zhì)量問(wèn)題，那我們?cè)诓僮黠@微鏡時(shí)要注意哪些問(wèn)題呢？1、顯微鏡物鏡按檔次可分為6~8個(gè)檔，zui常用的為平場(chǎng)消色差物鏡。如鏡頭檔次太低，則成像質(zhì)量會(huì)下降。因此，建議選擇平場(chǎng)以上檔次物鏡。2、調(diào)焦系統(tǒng)作為機(jī)械部分的重要部件，調(diào)焦精度也非常重要。對(duì)于生物學(xué)初學(xué)者或剛接觸顯微鏡的操作者，熟練使用調(diào)調(diào)焦系統(tǒng)，能快速找到圖像并聚焦，提高工作效率。
2016
03-25

掃描電子顯微鏡的基本參數(shù)
掃描電子顯微鏡的基本參數(shù)與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以，SEM中，透鏡與放大率無(wú)關(guān)。場(chǎng)深在SEM中，位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱為場(chǎng)深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。作用體積電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用，它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用，所以存在一個(gè)作用“體積
2016
03-23

復(fù)納光學(xué)電子顯微鏡報(bào)價(jià)
光學(xué)電子顯微鏡報(bào)價(jià)是根據(jù)客戶的選擇決定的，該系統(tǒng)繼承了飛納臺(tái)式掃描電鏡體積小，對(duì)環(huán)境無(wú)要求的優(yōu)點(diǎn)，可放置在普通實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中；德飛（Delphi）精密的機(jī)械設(shè)計(jì)結(jié)合電子束自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)，使用者只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就能得到非常的熒光和電子的重疊圖像，德飛（Delphi）是熒光和掃描電鏡世界之間的*橋梁。電子顯微鏡是以電子束為照明源，通過(guò)電子流對(duì)樣品的透射或反射及電磁透鏡的多級(jí)放大后在熒光屏上成像的大型儀器。電鏡中起放大作用的物鏡是電磁透鏡(能在中央部位產(chǎn)生磁場(chǎng)的環(huán)形電磁線圈)，而光鏡的物鏡則是玻璃磨制而成的光
2016
03-07

荷蘭飛納臺(tái)式掃描電鏡中文界面來(lái)了！
DearPhenomUsers，飛納電鏡制造商荷蘭Phenom-World發(fā)布升級(jí)軟件4.4，主要改進(jìn)為：新增簡(jiǎn)體中文界面，還有法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)可供選擇；新增位置回溯功能，點(diǎn)擊照片即可回歸原來(lái)位置；新增實(shí)時(shí)測(cè)量功能，觀察時(shí)即可實(shí)時(shí)測(cè)量；新增多次測(cè)量功能，可多次測(cè)量然后統(tǒng)一保存；穩(wěn)定性提升及他改進(jìn)；我司對(duì)飛納Phenom系統(tǒng)運(yùn)行的軟件提供*升級(jí)服務(wù)。PhenomChina飛納電鏡中國(guó)總部復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
2016
02-25

Phenom 飛納顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)在中國(guó)計(jì)量院的應(yīng)用
zui近實(shí)驗(yàn)室買了一批PS聚苯乙烯小球做實(shí)驗(yàn)?zāi)０澹螤罘浅Ｒ?guī)則，直徑也非常均勻，標(biāo)稱直徑分別為1.5μm和10μm。為了驗(yàn)證其準(zhǔn)確性，我們使用復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司北京實(shí)驗(yàn)室的Phenom飛納臺(tái)式掃描電鏡觀察并統(tǒng)計(jì)。在本試驗(yàn)中，利用Phenom飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)幫助我們獲得了漂亮的統(tǒng)計(jì)結(jié)果，同時(shí)極大簡(jiǎn)化實(shí)驗(yàn)流程，加快了實(shí)驗(yàn)進(jìn)度。下圖為北京實(shí)驗(yàn)室的Phenom飛納臺(tái)式掃描電鏡，小而精致，左邊的顯示器用于呈現(xiàn)樣品在掃描電鏡下的微觀形貌，右邊的電腦及軟件可以做能譜分析，超大視野全景拼
2016
02-24

臺(tái)式掃描電鏡飛納 Phenom 用于觀察昆蟲樣品
本文所有SEM圖片均使用飛納臺(tái)式電鏡進(jìn)行拍照。這款電鏡非常簡(jiǎn)單易用，無(wú)需特殊培訓(xùn)即可上手操作。操作界面就像數(shù)碼相機(jī)一樣便捷。我們同樣也觀察了未噴金的樣品，飛納臺(tái)式掃描電鏡的效果令人驚艷，*可以滿足觀測(cè)的需要，圖像信號(hào)充足，不會(huì)出現(xiàn)信號(hào)不足無(wú)法成像的情況，但是噴金樣品所拍的照片分辨率更好，而且亮度、對(duì)比度更均勻、更柔和。此次觀察的樣品是一些風(fēng)干的昆蟲（螞蟻、果蠅、蚊子、蜱蟲）。拍攝了大量的細(xì)節(jié)照片，并以此制作了一個(gè)關(guān)于昆蟲構(gòu)造的課堂展示，該展示曾用于馬薩諸塞州的NorthShore社區(qū)大學(xué)。同樣也
2016
02-24

飛納電鏡之纖維樣品方向?qū)Χ坞娮有Ч挠绊?/a>
由于二次電子探頭角度與方向性，向著探頭的斜面的二次電子信號(hào)強(qiáng)度要遠(yuǎn)大于逆向探頭的斜面，如示意圖1所示：圖1.二次電子角度、方向示意圖針對(duì)纖維類樣品，根據(jù)放大倍數(shù)與所觀測(cè)細(xì)節(jié)不同，需要調(diào)整樣品的方向，以獲得理想的效果。使用頭發(fā)樣品做對(duì)比。首先，將頭發(fā)放置方向垂直于二次電子探頭接收方向，毛鱗片細(xì)節(jié)較為平淡，如圖2所示：圖2.垂直于二次電子接收方向然后，將頭發(fā)放置方向平行于二次電子探頭接收方向，毛鱗片細(xì)節(jié)豐富，如圖3所示：圖3.平行于二次電子接收方向放大后對(duì)比兩種位置關(guān)系圖片效果：圖4.兩種位置關(guān)系對(duì)

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