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二手日本電子 掃描電鏡 IT-200交付現場
在2025年7月北京某新材料實驗室工廠內部實驗室成功從我公司購買日本電子掃描電鏡IT-200掃描電鏡，從現場交流技術和應用測樣到簽訂合同交付儀器現場
只用了7個工作日時間，深圳心怡創科技效率的為客戶服務宗旨：以下是交付現場：
儀器配置如下：日本電子掃描電鏡IT-200+電腦+操作軟件+樣品臺+操作臺+真空泵：
裝機地點：北京
在公司陳工的裝機現場，儀器性能再次確認和樣品的分析，得到客戶很好的反饋和專業的給與。感謝客戶的認可。
JSM-IT200性能參數
Main Performance on JSM-IT200A
Performance (一) 主要性能 | |
SEI Mode Resolution 二次電子圖像分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
BEI Mode Resolution 背散射電子模式分辨率 | 4.0nm@30KV |
Magnification 放大倍數 | ×5~×300,000（底片倍率） ×14~×839,724（顯示器倍率） |
Detectors 探測器 | Secondary Electron Detector 二次電子探測器 ★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent) 半導體型背散射電子探測器(技術) |
Image Mode 圖像模式 | Secondary Electron Image 二次電子圖像 REF Image REF像 Composition Image (Backscattered Electron Image) 成份像 (背散射電子圖像) Topography Image (Backscattered Electron Image) 形貌像 (背散射電子圖像) Shadow Image (Backscattered Electron Image) 立體像 (背散射電子圖像) |
Live Image Display 實時圖像顯示 | Dual Live Image Display, Split Live Image, 雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示 |
Accelerating Voltage 加速電壓 | 0.5KV ~ 30KV |
Probe Current 探針束流 | 1pA ~ 0.3uA |
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