FPIXRF-sdd-EDS能譜儀探測器,硅漂移探測器
2025-05-07
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這款硅漂移探測器(SDD,Silicon Drift Detector)專業為XRF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測器應用而設計，提供窗口材料的選擇，從鈹（8μm）到薄型聚合物（用于輕型X射線透射），并提供10mm2至60mm2的傳感器有源區域。 此外，所有或我們的SEM SDD版本都是無振動的。
硅漂移探測器在與創新的基于以太網的數字脈沖處理器相結合時得到優化。 具體配置給每個客戶，SDD硅漂移探測器在廣泛的輸入計數率下提供和穩定的性能，以產生快速X射線圖。
硅漂移探測器規格
| SDD探測器典型特征 | ||
| 傳感器區域 | 窗口選項 | 分辨率eV（Mn K / C） |
| 10mm2 | 光元件（AP3.3）或8μmBe | ≤123-133 |
| 30mm2 | 光元件（AP3.3）或8μmBe | ≤126-133 |
| 60mm2 | 光元件（AP3.3）或8μmBe | ≤126-133 |
| 100mm2 | 光元件（AP3.3）或8μmBe | ≤128-133 |
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孚光精儀（中國）有限公司
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