噴霧粒度分析儀 DP-02型

DP-02噴霧激光粒度分析儀是專門(mén)為霧滴及飛濺粉末的粒徑分布的原位測(cè)量而設(shè)計(jì)的，具有可變距離的開(kāi)放式測(cè)量區(qū)間，可定制毫秒采樣及同步觸發(fā)等功能。該儀器可根據(jù)應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)情況改變結(jié)構(gòu)，例如將光源發(fā)射器和檢測(cè)器放置于一體的導(dǎo)軌或桁架上，或者分別放置于獨(dú)立的臺(tái)面或移動(dòng)裝置上以實(shí)現(xiàn)不同應(yīng)用場(chǎng)景的測(cè)試需求，可選配導(dǎo)軌準(zhǔn)直或輔助準(zhǔn)直裝置等附件，以協(xié)助用戶快速的進(jìn)行儀器的架設(shè)及光學(xué)準(zhǔn)直，搭配內(nèi)置自動(dòng)對(duì)中裝置，縮短了儀器準(zhǔn)備時(shí)間，進(jìn)一步保障了測(cè)試結(jié)果的可靠性。

噴霧粒度分析儀

用途：測(cè)量液體噴霧或霧狀粉末的粒度分布。

工作原理：利用顆粒對(duì)光的散射現(xiàn)象，儀器通過(guò)測(cè)量散射光能的分布依據(jù)米氏散射理論反演計(jì)算被測(cè)顆粒的粒度分布。

技術(shù)指標(biāo)

1. 測(cè)試范圍：0.5-1500μm

2. 重復(fù)性誤差：≤3%

3. 樣品測(cè)試周期：1-2分鐘

4. 最短測(cè)量時(shí)間：標(biāo)準(zhǔn)版本≤0.5s，選配毫秒采樣功能≤0.1ms

5. 獨(dú)立探測(cè)單元數(shù)：48

6 光源：He-Ne激光器，功率2mW，波長(zhǎng)0.6328μm，單色性≤0.1nm

7. 工作環(huán)境：溫度：5-35℃，濕度：＜85%，傅里葉透鏡無(wú)直射光線干擾

輸出項(xiàng)目

粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑等特征粒徑、比表面積等

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 專門(mén)為噴霧的粒度測(cè)量的平行光路設(shè)計(jì)，可根據(jù)應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)情況改變儀器結(jié)構(gòu)。

2. 可選輔助準(zhǔn)直裝置附件，快速實(shí)現(xiàn)儀器的對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合自動(dòng)對(duì)中機(jī)構(gòu)可在極短時(shí)間內(nèi)完成儀器的準(zhǔn)備工作。

3. 光源采用2mW 0.6328um He-Ne氣體激光發(fā)射器，具有單色性好、相干性高、發(fā)散角小、穩(wěn)定性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

4. 采用一體化激光發(fā)射器設(shè)計(jì)，有效降低了激光管熱變形、外界機(jī)械振動(dòng)對(duì)儀器穩(wěn)定性的影響。

5. 包括手動(dòng)微調(diào)和智能自動(dòng)對(duì)中功能，實(shí)現(xiàn)了快速精確的光學(xué)對(duì)中，保障了測(cè)量的重復(fù)性，可選配導(dǎo)軌或輔助對(duì)中裝置簡(jiǎn)化測(cè)試前儀器對(duì)中操作。

6. 可選配通用67mm UV鏡透鏡保護(hù)裝置，避免噴霧可能對(duì)儀器主要光學(xué)部件污染，易清潔，易更換。

7. 隨機(jī)附帶圓片標(biāo)準(zhǔn)樣，可隨時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)驗(yàn)證。

8. 可設(shè)置測(cè)量時(shí)間、測(cè)量次數(shù)，連續(xù)記錄多個(gè)測(cè)量結(jié)果，并具有統(tǒng)計(jì)比較、趨勢(shì)分析等功能。

軟件功能

1. 2種分布模型：通用分布、單峰分布

2. 測(cè)試報(bào)告模式：普通報(bào)告、統(tǒng)計(jì)報(bào)告、趨勢(shì)報(bào)告等多種報(bào)告模板，且可自定義。

3. 粒度累計(jì)分布方向：從小到大或從大到小

4. 粒度分布結(jié)果：體積分布、表面積分布、數(shù)量分布可轉(zhuǎn)換

5. 粒徑段可自定義

6. 測(cè)試報(bào)告可導(dǎo)出為excel、word、pdf等格式或其他文本格式，所有圖片皆可鼠標(biāo)右鍵導(dǎo)出

7. 測(cè)試報(bào)告項(xiàng)目可根據(jù)行業(yè)要求即輸即改，比如特征粒徑、特定粒徑值等項(xiàng)目，并可設(shè)置為固定報(bào)告格式。

附件：DP-02測(cè)試報(bào)告（見(jiàn)下頁(yè)）

粒度測(cè)試報(bào)告