FISCHER 鍍層膜厚分析儀產品特點：
★ X射線發生系統采用了聚光導管
由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，從而可以提高微小樣品的鍍層膜厚測量及有害物質測量的精度。

★ 無需液氮的半導體檢測器
在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是*的,不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。

★ 能譜匹配軟件
FISCHER 鍍層膜厚分析儀可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。

★ 塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）
可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

★ 繪圖軟件（選配件）
將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

★ 電鍍液容器（選配件）

★ 各種標準物質（選配件）

檢測：

☆ 單、雙及三層鍍層系統
☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆ 雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
☆ 能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量
☆ 可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇
☆ 完整的統計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估
☆ 報告生成，數據輸出
☆ 語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
☆菜單中的某些選擇項可*使用
注：基礎WinFTM軟件版本不允許創建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，可在交貨前預先創建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
☆ 可隨意創建測量應用
☆ 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分
 

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