: 李 :

少子壽命測試儀（WT-2000型）

一、少子壽命測試儀簡介:

  從匈牙利Semilab公司引進，主要應用于半導體/光電/光伏材料（單晶/多晶硅片及硅錠）的工藝控制及測試手段。通過測量少子壽命，可做出晶體生長及工藝過程引入的缺陷圖及硅片中的Fe元素污染圖。儀器主要功能有微波光電導衰減法測少子壽命，光誘導電流測試，無接觸方塊電阻測試，渦流場體電阻率測試，Fe元素含量測試。

二、的主要技術指標:

1. 微波光電導衰減法測少子壽命:

1.1 壽命測試范圍：0.1 us – 30 ms  

1.2 測試分辨率：0.1%  

1.3掃描分辨率：0.5,1,2,4,8,16mm 

1.4 樣品的電阻率范圍：0.1 – 1000 ΩCM 

1.5 測試光點直徑：1mm 

1.6 測試速度：30ms/數據點

1.7 zui大測試點數：超過360000 

1.8激光源波長：904nm 

1.9光源脈沖寬度：200ns,fall time 10ns

2. 光誘導電流測試

2.1 掃描區域：zui大210 ? 210 mm 

2.2 測試電流范圍：1 uA – 1mA 

2.3 光源波長：403，880，950，980 nm 

2.4 選加功能：硅片，電池的上述激光波長反射率掃描，電池的IQE，EQE掃描 

2.5 通過兩個以上的激光器，可以計算少數載流子的擴散長度

3. 方塊電阻測試:

無接觸方塊電阻測試功能，以取代傳統的四探針

3.1 可測試樣品：np or pn structure 

3.2 測試范圍：10 Ω/sq to 1000Ω/sq 

3.3 測試分辨率：2% 

3.4 掃描分辨率：10mm 

3.5 測試精度：< 3% 

3.6 測試重復性：< 1%

4. 體電阻率掃描：渦流場測試，無接觸，無損傷測試

4.1 測試范圍：0.5 – 20 ΩCM      

4.2 測試精度： 3-6 %  

4.3 測試重復性： 2%            

4.4 探頭直徑：5 mm

5. p型硅樣品，范圍：Fe含量1.0E10至1.0E15atom/cm3