AXXIS® XCT 4200型X射線鍍層測厚儀

AXXIS® XCT 4200型X射線鍍層測厚儀采用可編程的X－Y工作臺，X射線從上往下照射，適合被測物體的編程測量和測試大樣品。使用大功率X光管，是一款高校的X熒光測厚儀，測試時間短。

開放式樣品腔，可以測量任意大小的物體，特別適用于PCB行業。

AXXIS® XCT 4200 X熒光測厚儀技術參數

zui大測鍍層數：5層

鍍層種類：單金屬鍍層/合金鍍層/無機鍍膜

可測鍍層類型：金屬鍍層

無機鍍膜

可測元素：硫（S）－鈾（U）

zui小測量直徑：0.5mm
厚度測量范圍：輕金屬（如Ti、Cr等）0.05～20um

中金屬（如Ni、Cu、Ag等）0.01～30um

重金屬（如Pt、Au等）0.005～10um

測試精度： 可達納米級

厚度相對誤差：單層<5%，多層5~10%

功耗：150W（儀器主機）

輸入電壓：AC220V/50HZ

樣品腔尺寸：650mm*460mm*170mm

儀器尺寸： 680mm*490mm*450mm

重量：56Kg

X熒光測厚儀主要配置

半導體探測器

微聚焦X光管

高清CCD

高壓電源

濾光片4組

準直器5個

打印機1臺

計算機1臺