XP205DR 梅特勒珠寶分析天平
- 公司名稱 深圳市光衡儀器有限公司
- 品牌 Mettler Toledo/梅特勒托利多
- 型號 XP205DR
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2015/7/3 17:42:48
- 訪問次數 389
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XP205DR梅特勒珠寶分析天平
梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者,樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。
XP205DR梅特勒珠寶分析天平技術指標
● zui大稱量值 220g
● 精細量程的zui大稱量值 81g
● 可讀性 0.1mg
● 精細量程的可讀性 0.01mg
● 線性 0.15mg
● 四角誤差 0.25mg(100g)
● 靈敏度漂移 2.5x10-6
● 靈敏度溫度漂移(10-30°C) 1x10-6/°C
● 接口更新速率 23/s
● 天平外型尺寸(W×D×H mm) 263×486.5×322
● 秤盤尺寸(W×D mm) 76×73
XP205DR商品信息
紅外感應器(SmartSense),實現無需用手接觸的稱量操作:開關門,打印,去皮等
彩色智能觸摸屏(SmartScreen),實現安全,便捷的天平操作
網格秤盤(SmartGrid),獲得快速,準確稱量結果
水平控制系統(LevelCControl), 在天平偏移水平位置時提供警告提示功能
易巧稱量組件(ErgoClip),滿足使用不同容器的稱量需求
用戶管理工具(UserManagement),可以獨立設置操作者的使用權限
MinWeighzui小稱量值功能,提供符合規范的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活)
天平校驗功能(BalanceCheck),自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確
ProFACT專業級全自動校準技術,溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得精確稱量結果
*可拆卸,清洗的防風罩設計,實現快速清潔
高度可調節的內置防風罩,確保精確稱量結果
可移動,分離的顯示控制終端,方便天平使用
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙,以太網,USB,LocalCan,RS232和PS/2通訊接口選件插槽,方便連接打印機,電腦等外圍設備
顯示屏塑料保護罩,避免散落樣品的腐蝕
6種內置應用稱量程序:簡單稱量,計件稱量,百分比稱量,密度測定,統計功能,公事稱量