華科達實驗設備為您提供優質的梅特勒電子天平XS3DU介紹如下：
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的稱量性能，*基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中*的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

標準配置

內置稱量應用程序

TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數設置

SmartTrac彩色動態圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差

可設置多達10個特定功能的快捷鍵

可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識

內置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現無需用手接觸的稱量操作

第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件

手動開關門的玻璃防風罩

可更換的顯示屏保護蓋

下掛鉤稱量

具有過載保護的稱量傳感器

顯示多種質量單位

差重稱量應用程序

計件和百分比稱量應用程序

統計應用程序

技術指標

極限值

XS3DU 雙量程

zui大稱量值

3.1 g

可讀性

0.01 mg

zui大稱量值

0.8 g

可讀性

0.001 mg

重復性(sd) - 加載處

0.006 mg

- 低加載（加載處）

0.005 mg (0.2 g)

重復性(sd) - 加載處

0.001 mg

- 低加載（加載處）

0.0008 mg (0.2 g)

線性誤差

0.004 mg

四角誤差（加載處）1)

0.005 mg (2 g)

典型值 4)

典型重復性（sd）

0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非線性（sd）

√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角誤差（sd）

1.2 x (10–6)•R_nt

典型靈敏度偏移（sd）2)

3 x (10–6)•R_nt

典型zui小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)

0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型穩定時間

< 6 sec 

穩定時間

< 10 sec

1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) *次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
* 重復性和zui小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
梅特勒電子天平XS3DU行業補充說明：
維護保養
1、將天平置于穩定的工作臺上避免振動、氣流及陽光照射電子天平。
2、在使用前調整水平儀氣泡至中間位置。
3、電子天平應按說明書的要求進行預熱。
4、稱量易揮發和具有腐蝕性的物品時，要盛放在密閉的容器中，以免腐蝕和損壞電子天平。
5、經常對電子天平進行自校或定期外校，保證其處于*狀態。
6、如果電子天平出現故障應及時檢修，不可帶“病”工作。
7、操作天平不可過載使用以免損壞天平。
8、若長期不用電子天平時應暫時收藏為好。
XS3DU售后服務政策：
1.我公司生產或經銷的產品，無論用戶在何地，一律按照產品說明的保修期提供保修服務滿足用的各種需求。
2.產品保修期內，在正常使用的情況下出現任何產品的故障，經驗證屬實，可免費維修儀器或更換零部件；但因使用不當、濫用、誤用或因自然災害造成的故障，不屬于免費保修范圍，我公司可提供維修服務，只收取所更換零部件的成本費用；保修期外，出現儀器故障將及時維修，維修費免除，只收取成本費。
3.本公司售后服務產品，保修期均為12個月，終身維護使用。