冶金行業專業檢測系統

型號X-3680

產品概述：

X-3680是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用大功率X射線管為激發源，高分辨率美國*全數字一體化X-123探測器系統，多種準直器與濾波片相結合，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強，分辨率高，適用于冶金行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。快速無損檢測，無需制樣，測試時間從3秒到幾分鐘可調。檢測精度達到1PPM級。檢測性能*保證符合中華人民共和國*、中國*發布的《GB/T 18043-2013含量的測定 X射線熒光光譜法》中對X射線熒光光譜分析儀的要求：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率優于170eV

產品特點：

1.高清數字液晶顯示屏，電壓電流參數一目了然，符合國家規定的儀器要求

2.儀器雙箱體結構：有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩定性，保障測量精度

3.三重防輻射:配備光電快門裝置，更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢對操作人員的危害，零輻射條件下使用儀器

4.樣品成像定位系統：內置自動感光高像素攝像頭及*的定位軟件，方便樣品的局部定位和測量，實時監控樣品狀態及測試點

5.溫度控制系統：內部風冷水冷雙循環冷卻，zui大限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩定，測量精度準確;

6.操作軟件：開放的可供客戶自行開發和升級的工作軟件平臺。銀，銅雙峰位同時自動校準，使儀器校準更加精準，隨時修正工作曲線，使測量結果達到zui高精度（同行業中*采取此校準方法）.一鍵式操作模式方便、簡潔，工作強度小效率高

7.鍍層檢測：儀器可針對不同基體上的不同鍍層進行5層檢測，并得出準確結果，使用者可根據需求進行二次開發

8.基于世界上的X-123全數字探測系統，開機實現測量不需要預熱，數字處理器*

9.其它應用：可增加有毒有害物質和重金屬檢測方法，實現一機多用

技術參數：

1. 分析元素范圍：鋁（Al）13號元素——鈾（U）92號元素

2. 元素分析含量范圍：1ppm到99.99%

3. 元素同時分析能力：35種元素

4.  測量樣品型態：固體，粉末，液體

5. 測量精度：高含量樣品誤差±0.13 %

中高含量樣品誤差±0.13-0.3%

低含量樣品誤差±0.3%

6.測量時間及次數:1秒到180秒可調，一鍵式快速測量3.5秒可出結果,測量次數任意選擇,且在多次測量

時可做平均值及標準偏差測量并與結果一起顯示

7.可測試樣品大小：方便大型樣品的檢測，關倉測量：335mm×345mm×83mm，開倉測量：無限大

8.探測器：美國Amptek公司高分辨率全數字一體化X-123探測器系統，探測面積6mm2 ,硅活化區厚度：500μm；鈹窗，厚度25μm；分辨率： 對于55Fe，@5.9keV  對于12us的形成時間，半高寬為139eV

9. 高壓電源：穩定的*高壓電源zui大功率50W

10.定量分析方法：理論α系數法，多元回歸法，基本參數法，（國內同行業*采取此類綜合計算方法）

11.定性分析方法：元素自動尋峰，Kl譜線標記法，峰譜比對法等

12. 濾波系統：多種濾波片與多種準直器任意組合自動切換，有針對性的進行不同元素的測量

13.激發源：大功率X射線管，使用三重制冷系統，對各種元素激發效率更高

14.整機分辨率：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率為153eV-158eV*符合中華人民共和國*、中國*發布的《GB/T 18043-2013 首飾 貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法》中對X射線熒光光譜分析儀的要求：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率優于170eV。

15.多道分析器：2048道

16.外型尺寸：530mm×480mm×330mm，

17.儀器重量：37kg

18.工作環境溫度：18—28℃

19. 工作環境相對濕度：≤70% 

高壓電源規格：

1. 電壓和電流從零至滿量程連續可調：zui大50KV，1mA

2. 電壓調整率,負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程0.01 %

3. 線性調整率：對于規定的輸入電壓范圍，該數值為滿量程0.01%

4. 電流調整率,負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%

5. 穩定性：無需預熱，每8小時變化不超0.05%

6. 溫度系數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%

系統組成：

X-3680檢測儀一臺

分析軟件一套