一、概　　述

低頻頻率特性側試儀是為滿足低頻 20HZ 至射頻2MHz領域頻率特性測試而研制的，它用動態掃頻測量技術給出一個可靠的結果。可廣泛地用于電聲器件，放大器、檢波器及各種有源、無源四端網絡特性的快速測試。尤其對各種濾波器（集中參數濾波器、陶瓷濾波器、機械濾波器）的測試可得到較理想的結果，在通訊、生物學、物理學、結構材料學及教育等領域內亦是一種通用的檢測設備，能替代通常的正弦波發生器，脈沖發生器工作。



二、主要技術特性



1 ．掃頻頻率范圍： 20 Hz～ 2MHZ　

I 頻段 20HZ 一20KHz

Ⅱ頻段20HZ 一20KHz

2 ．掃頻寬度：a 寬掃：頻段全景

b 窄掃：≤0 . 01 一 1 頻段zui高頻率 f (max )自由運用。

3 ．輸出電壓：≥2.45V ( 75Ω終端負載)

4 ．輸出阻抗： 75 Ω士5 %

5 ．輸出不平坦度，≤5 % （zui大頻偏）

6 ．頻率標志：具有1MHz／100KHz , l00KHz / 10KHz， l0KHz / 1KHz， 　　　　　

　　1KHz/0.1KHZ　四種組合標志及手動頻率計顯示

7 ．掃頻時間有效范圍： 1～30S自由調節

8 ．掃頻方式： a 手動 b ．線性

9 ．輸出衰減：由 1 、 2 、 3 、 4 、 10 、 20 、 30dB 七檔組合成

ldB 步進，zui大哀減量達 70dB 。

10 ．輸出載波失真：≤7 %

11 ．輸人阻抗： > 200KΩ

12 ．顯示工作特性：

a．線性靈敏度： 200mv （滿偏轉）誤差土 10 ％土 1 / 2 小格。

b．對數動態范圍：2.45mV ～2.45V（-50dB + 10dB ）誤差≤土 ldB ± 1 / 2 小格。