Xradia 800 Ultra 的zui小分辨率低至50 nm，使微觀結構和進程可視化，這些是傳統實驗室 X 射線技術不能實現的。在 X 射線能量為8 KeV下運行，的穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態下的結構和材料。

集成相位襯度技術的 Xradia 800 Ultra 運用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結構和納米結構可視化。

蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術，提供可信賴的內部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環境使您可以輕松的進行原位研究。

• 無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結構觀察下對同一樣品進行重復成像
• 在原位設備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
• 用于斷層掃描重構的圖像自動調整功能
• 視野可在 15 至 60 μm 的范圍內進行切換
• 吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
• 在實驗室中開發、準備、測試你計劃的同步實驗，讓有限的同步輻射時間更加有效率
• 搭配 Scout-and-Scan 控制系統和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室