SYS-SC-X 小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
- 公司名稱 丹東中儀電子設備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 SYS-SC-X
- 產地 遼寧
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2018/3/26 11:09:49
- 訪問次數 977
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波長范圍 | /nm | 產地類別 | 國產 |
---|---|---|---|
分析時間 | / | 價格區間 | 面議 |
掃描速度 | /S | 樣品量 | /g |
儀器種類 | 臺式 |
小麥品質分析和面粉麩星檢測儀用途:
快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等,面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實驗室快速檢測獲得批處理數據(包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等;面粉的麩星、砂石的大小和含量)。小麥品質檢測方法符合GB5504-85《糧食、油料檢驗小麥加工精度檢驗法》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。
小麥品質分析和面粉麩星檢測儀特點:
儀器由光學成像系統、智能分析軟件、220g量程1mg精度電子天平組成。系統具有的自學習能力,實現人性化的一鍵式智能分析,并可交互修正個別的分類錯誤點,以達到正確分類結果。該分析系統能大批量處理,自動分析300個以上小麥和面粉樣品的高分辨率圖像。由專業軟件分析成像后的彩色圖像,準確、快速地測定小麥的粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度、籽粒飽滿度(即:可按面積自動排序及輸出)、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等指標,以及面粉中的麩星粒數和大小、麩星面積比和對應的砂石占比。軟件能讓用戶實時看到真實樣品分析過程情況,并交互修正;當面粉指標偏離設定參數時,可報警顯示;用戶可隨意查詢檢測結果,并打印。所有測試圖像分析結果和數據可在電腦上顯示并保存。數據準確可靠,結果穩定、重復性高;樣品可重復測試,重現性高。
主要性能指標*:
? zui大分析面積:小麥為A4紙幅面;面粉為35mm×35mm
? 測量時間:小麥≤2分鐘/樣品;面粉≤1分鐘/樣品視野。
? 小麥千粒重測量重復性誤差±≤0.5%
兩次掃描單面分析外觀品質的重復性誤差±≤2.0%
? 可接入條碼槍來自動刷入樣品編號,分析結果可對應樣品編號輸出至EXCEL表,分析圖像標記結果可保存。
儀器規格配置:
帶RS232線電子天平(220g量程、1mg精度)1臺,LED光源、zui高光學分辯率4800×9600dpi雙光源彩色掃描儀1臺,單目體視顯微鏡+300萬像素相機1套、微型手動移動平臺1套,小麥外觀品質分析、面粉麩星檢測軟件光盤1張(含電子版操作手冊)、軟件鎖1只,籽粒收納盤1個,緊粉用面粉成像小盤1付。(電腦需另配)
儀器總尺寸、總重量:寬×深×高約50cm×40cm×12cm,~13kg。
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