508 PV™能夠與任意開放接口的顯微鏡或者探針臺結(jié)合使用，增加光譜學(xué)、彩色成像、薄膜厚度測量和比色測量功能，非常適用于各種應(yīng)用，如平板顯示器上像素的比色測定、煤鏡質(zhì)體和巖相的反射率測量或光學(xué)和半導(dǎo)體的薄膜厚度測量，能夠很簡便快速的獲得光譜和圖像，甚至是數(shù)字視頻。選擇不同的顯微鏡配置，能夠從微光樣品中獲得吸收、透射、反射、偏光和熒光顯微光譜。CRAIC提供的顯微鏡為顯微光譜儀經(jīng)過特別設(shè)計，能夠得到很大的光譜范圍、增強(qiáng)的信噪比和優(yōu)秀的成像能力。

      508 PV™顯微分光光度計所擁有的前沿技術(shù)，能用來升級老版的顯微分光光度計。508 PV™采用新的Lightblades™分光光度計，采用TE冷卻保證長期穩(wěn)定性和低噪聲水平，科研級顯微鏡，校準(zhǔn)的可變孔徑，通用C-mount接口以及整合光譜分析、圖像處理和設(shè)備控制的*Lambdafire™控制軟件包。設(shè)備性能穩(wěn)定性，操作簡便，能實(shí)現(xiàn)多年*運(yùn)行。

 508 PV™參數(shù)