日本NF LCR測試儀ZM系列概述

測量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途

日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對(duì)1nF的電容反復(fù)測量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。

技術(shù)參數(shù)

早在1959年， 高精度的負(fù)反饋控制技術(shù)尚未在日本國內(nèi)普及， 我們就已經(jīng)以此為基礎(chǔ)， 根據(jù)“凡是社會(huì)需要的， 就是我們要?jiǎng)?chuàng)造的新產(chǎn)品”的理念， 創(chuàng)建了NF公司。 此后， 我們繼承和發(fā)揚(yáng)了這一先驅(qū)精神， 積極探索尚未被人們了解的新領(lǐng)域， 不斷創(chuàng)新并提供獨(dú)有產(chǎn)品， 為新一代的產(chǎn)品開發(fā)和社會(huì)發(fā)展做出我們的貢獻(xiàn)。 NF的*技術(shù)涉及到極其廣闊的領(lǐng)域， 包括汽車和數(shù)字家電等*電子技術(shù)、 燃料電池和太陽能發(fā)電等清潔能源技術(shù)、 納米技術(shù)、 以及人造衛(wèi)星和火箭等宇航技術(shù)。今后， 我們?nèi)詫⒗^續(xù)鉆研*技術(shù)， 不斷地為未來的科技發(fā)展提供高新技術(shù)產(chǎn)品。