銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列

品牌：Micro Pioneer

儀器功能及應用：

檢測電鍍與化學鍍層：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀?檢測范圍

Au  0.03-6um

Pd  0.03-6um

Ni  0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag  0.1-50um

Cr  0.5-30um

Zn  0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列?測厚儀精度控制：

*層：±5%

第二層：±8%

第三層：±15%

X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2020系列

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀三款型號

不同型號各種功能相同

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2020N型:測量樣品高度不超過25cm  (長20寬18cm)

XRF-2020H型:測量樣品高度不超過12cm  (長20寬17cm)

XRF-2020L型:測量樣品高度不超過3cm   （長20寬19cm）

XRF-2020PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列

儀設備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量

定點自動定位分析

光徑對準全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數

彩色區別測量數據

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀多重統計顯示視窗與報告編輯

應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩定延長校準時效全進口美日系零件價格優勢及快速的服務時效

X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列
品牌： 微先鋒Micro Pioneer
貨號：XRF-2020系列測厚儀
品名：X-RAY膜厚儀

銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um