本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
- 公司名稱 廣州貝拓科學技術有限公司
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- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/7/18 12:05:07
- 訪問次數 4121
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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月，是國家高新技術企業，廣州科技小巨人企業，并在廣東股權交易中心成功掛牌（股權代碼：892081），通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系，擁有近30項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域，自主研發儀器有光學接觸角測量儀，拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系，并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平，未來面向市場。
貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導，為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工，陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學家提供專業的服務。
我們的宗旨是為科學學提供更專業，更貼心的服務。
我們的優勢和專注點集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務，其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。
材料分析領域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產地類別 | 國產 |
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本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
儀器簡介：
CSPM5500是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運行穩定、使用方便，非常適合用戶開展納米研究工作。
本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
技術參數：
(1)國際主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
(2)分辨率：
原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.1nm（以云母晶體標定）
掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）
(3)高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標準樣品進行校準
(4)一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大于30mm，可容納超大樣品
(5)兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行精確的檢測區域定位
(6)一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際信息
(7)*進PID反饋算法實現快速高精度作用力控制，確保系統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級
(8)系統采用10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計算機連接
(9)主控機箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統當前狀態實時顯示
(10)具備實時在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息
主要特點：
(1) 標準配置：
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等
(2)選配功能：
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等；
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡；
環境控制掃描探針顯微鏡；
液相掃描探針顯微鏡；
導電原子力顯微鏡；
掃描探針聲學顯微鏡；
掃描開爾文探針顯微鏡；
掃描電容顯微鏡；
壓電力顯微鏡
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