X-MET5100 手持式 X 射線熒光光譜儀保證了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到準確測量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。

X-MET5100 手持式 X 射線熒光光譜儀堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具，專為以下行業應用而設計：

• 金屬材料可靠性鑒定（PMI）
• 廢舊金屬回收行業
• 環境重金屬監測（土壤和RoHS）
• 航空和汽車工業
• 礦石勘察、現場挖掘控制和礦山制圖