半導(dǎo)體溫度沖擊試驗(yàn)主要規(guī)格：

　　溫度范圍：-20～150℃(度);

　　-40～150℃(度);

　　-70～150℃(度);

　　波 動(dòng) 性：±0.5℃;

　　均 勻 性：±1.0℃;

　　容 積：50L～8000L供客戶;

　　冷熱沖擊機(jī)：定溫試驗(yàn)、曲線式溫度試驗(yàn);

　　內(nèi)膽材質(zhì)：鏡面不銹鋼;

　　PID微電腦智能溫控系統(tǒng)，冷熱平衡方式精密控溫，恒溫點(diǎn)可任意設(shè)定，目標(biāo)溫度和實(shí)時(shí)溫度同時(shí)顯示致

　　外箱材質(zhì)：不銹鋼或鍍鋅鋼板塑粉噴涂;

　　壓 縮 機(jī)：法國(guó)泰康全封閉壓縮機(jī)組;

　　控 制 器：日本或韓國(guó)產(chǎn)控制器;

　　循環(huán)單元：大風(fēng)量離心式不銹鋼葉翼風(fēng)機(jī)，強(qiáng)制空氣循環(huán)，以確保箱內(nèi)溫度均勻性

　　冷單元：法國(guó)泰康全封閉工業(yè)壓縮機(jī)，環(huán)保致冷劑，風(fēng)冷冷凝器，自動(dòng)負(fù)載容量調(diào)整蒸發(fā)器;

　　恒溫恒濕試驗(yàn)箱加熱單元：鱗片式不銹鋼電熱管;

　　觀 察 窗：雙層隔熱自動(dòng)防露玻璃觀察窗

　　恒溫恒濕試驗(yàn)箱箱內(nèi)照明：防爆型日光燈

半導(dǎo)體溫度沖擊試驗(yàn)產(chǎn)品說(shuō)明：

　　該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。 加熱采用不銹鋼翅片加熱管;升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。箱體的高低溫試驗(yàn)機(jī)+高低溫試驗(yàn)箱外殼為采用霧面不銹鋼，內(nèi)膽采用鏡面不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。

　　冷熱沖擊機(jī) 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)高低溫試驗(yàn)箱主要功能:

　　該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

主要特點(diǎn):

　　●風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

　　●升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

　　●溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。

　　●資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。

　　●制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。

　　●冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

　　●采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

　　●具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定。

　　冷熱沖擊機(jī) 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)高低溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　● GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　● GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備導(dǎo)則

　　● GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)

　　● GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　●GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

　　● GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法