一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920

金鎳測厚儀x-stara920特點：
可測元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；
可測鍍層：5層鍍層(含基材層)，15種元素共存校正；
測量時間約10秒，快速得出測量結果；
測量結果***到微英寸；
測量結果報告可包含：數據、被測樣品點圖片、各種統計報表、客戶信息；
提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評價)；
提供NIST認證的標準片；
享有的服務與支持。

金鎳測厚儀x-stara920測厚范圍：
取決于具體的應用。
 
金鎳測厚儀x-stara920測量精度：
膜厚≤20µin(0.5um)時，測量誤差值為：一層±1µin，第二層±2µin，第二層±3µin
膜厚＞20µin(0.5um)時，測量誤差值為：一層±5%，第二層±10%，第二層±15%

一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920?可檢測多層鍍層元素的厚度，同時也可以分析鍍層金屬元素的成分。

日立&牛津 的測量和分析儀器廣泛應用于各個領域，可滿足客戶對高精度、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業的咨詢服務為客戶提供佳的解決方案，即從接觸開始，不斷溝通，直至達到定制化服務的理念。這些緊密合作與我們的創新驅動力不斷結合，為形成新的測量解決方案奠定了堅實的基礎。