XDAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分析儀配創(chuàng)新的X射線光學(xué)系統(tǒng),專門測量極小的面積.電動(dòng)測量臺(tái),高能量解像半導(dǎo)體接收器,四個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器.自動(dòng)切換，采用激光自動(dòng)對(duì)焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對(duì)焦時(shí)造成一起的損壞。可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個(gè)領(lǐng)域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標(biāo).：王生：   ：     地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈