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掃描電子顯微分析裝置EmCrafts電鏡附件

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電鏡附件

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北京馳奔儀器有限公司

 

反應釜

價格區間 面議 儀器種類 鎢燈絲
應用領域 醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池

 *材料在微納米尺度物理缺陷和化學成分差異將對宏觀性能產生重大影響,材料科技工作者需要從微納米尺度掌握材料物理缺陷形成、成分差異演變、晶體結構組成的一般規律。針對這樣的課題,使用掃描電鏡(SEM)平臺配套EDS/WDS/EBSD觀察分析是科學的解決方案。

掃描電子顯微分析裝置EmCrafts電鏡附件常用的分析附件,使用Si半導體晶體對元素特征X射線展譜,自1970年代商品化以來,技術性能不斷進步,當前技術,可在分秒間對微納米尺度成分差異做出準確判斷。分析報告包括材料微觀圖像和不同微觀區域化學成分,全元素構成,元素百分比以及測量方差。
    WDS作為早配合電子束探測材料微區元素組成的X射線分光儀器,特征X射線能量分辨率5-10電子伏,對微量成分定性定量精度比EDS提高一個數量級,目前在半導體,電子材料,地質礦物和特殊合金研究中廣泛使用,但波譜分析逐個元素進行定量,比較耗時,對電子束束流穩定性提出更高要求。

    EBSD,采用高能背散射電子,對樣品剖面做晶體衍射,從而獲得微區晶體結構,取向,分布定性定量結果。在金屬、陶瓷和地質學分析顯微結構及織構中使用越來越廣泛

掃描電子顯微分析裝置EmCrafts電鏡附件,均采用專業級電子顯微成像技術,專業設計電子顯微分析附件探測器接口,優化探測器幾何探測效率,是優良的掃描電子顯微分析平臺。

Cube-200桌面臺式電鏡,可拓展簡單易用的臺式電鏡能譜儀(EDS) ;

Genesis-I型分析電鏡,可拓展專業級X-ray能譜儀,定量更;    

Genesis-II型分析電鏡,可拓展專業EDS、WDS、EBSD裝置、CL等多種電子顯微分析附件。

Veritas-300型分析電鏡,具有大型樣品觀察分析倉,可裝備更多電子顯微分析附件和微操作樣品臺。



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