日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

128通道并行驅動型高速相控陣探傷系統現已上市！
在過去很難進行瑕疵檢測的特殊環境中以及在需要瑕疵檢測速度的特殊環境中，Flash Focus與超聲波瑕疵檢測兼容。高速，高精度探傷支持所需的高質量保證。

特征

多可并行驅動128個元件

通過增加同時使用的元件數量，提高了光束聚焦能力，并且還增加了掃描圖案。

線性掃描

部門掃描

區域重點

動態深度聚焦

體積聚焦技術（專li3704065）

xin的相控陣技術可實現高速，高分辨率的缺陷檢測。

可以使用各種探針檢測缺陷

除了普通的線性探針，我們還使用矩陣探針和細間距探傷實現了更細的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進行檢查。

線性探針

年度矩陣探測

方陣探頭

日本KJTD體積聚焦相控陣超聲波探傷儀FLASH FOCUS

體積聚焦技術是我公司開發的相控陣超聲探傷技術（專li3704065）。常規的相控陣掃描方法如下。

• 對于線性或扇形掃描，將發射光束指向一個方向，并且焦點位于軸的中心
• DDF或區域焦點一次聚焦在一個點上，然后繼續沿光束移動

另一方面，體積聚焦是一次掃描整個橫截面（例如樣品體積）的新方法。通過同時激發所有元素來創建一個不分散的平面波。

每個平行的元素都從底面，夾雜物，缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后，并行數字硬件處理實時創建B掃描和C掃描。

從概念上講，體積焦點類似于DDF，但體積焦點可以覆蓋所有橫截面或體積，而不僅僅是沿深度軸。