武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司是華中地區(qū)領(lǐng)xian的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，與武漢眾多高校師生及其分析測(cè)試中心有交流合作。

業(yè)務(wù)覆蓋材料、化學(xué)、生物、食品等多個(gè)領(lǐng)域，針對(duì)高校及企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問(wèn)題，我們會(huì)提供合適的解決方案以及規(guī)范的測(cè)試服務(wù)。

 原子力顯微鏡（AFM）

測(cè)試項(xiàng)目：

高度圖 相圖 表面粗糙度 三維立體圖 其他

測(cè)試范圍：

廣泛地應(yīng)用于表面分析的各個(gè)領(lǐng)域,通過(guò)對(duì)表面形貌的分析、歸納、總結(jié),以獲得更深層次的信息。它可以用于研究金屬、半導(dǎo)體和非金屬類材料的表面形貌、表面重構(gòu)、摩擦力，獲得相界、分形結(jié)構(gòu)和橫向力等信息的空間三維圖像。

測(cè)試要求：

粉末樣10mg，塊狀、薄膜樣品大1×1cm，厚度厚0.5cm，液體樣品5ml

樣品上下表面整潔，沒(méi)有油漬灰塵等污染物

儀器大掃描范圍15×15×3um

若是納米顆粒樣品，先用一定的分散劑超聲分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后測(cè)試。若沒(méi)有云母片，請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試前到本實(shí)驗(yàn)室來(lái)取。

如果樣品表面有無(wú)機(jī)鹽，先用水等清除鹽分后來(lái)測(cè)試，因?yàn)辂}分結(jié)晶影響形貌的掃描。

如果是要測(cè)試薄膜厚度，預(yù)先把薄膜和基底作出一個(gè)邊界清楚的臺(tái)階。

   原子力顯微鏡（AFM）

  武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司堅(jiān)持“恪守信譽(yù)、質(zhì)量?jī)?yōu)異、客戶*”的經(jīng)營(yíng)理念，不斷超越，追求完美，以更好的質(zhì)量、更快的速度完成測(cè)試委托，對(duì)測(cè)試負(fù)責(zé)，讓客戶滿意！