線性5℃～25℃/min快速溫度變化試驗箱用途

快速溫度變化試驗箱是運用外在加速技術溫度循環(huán)和隨機振動來提前暴露潛存于產品中的瑕庇浮現(xiàn)，將浴盆曲線中的早夭失效期階段的產品予以檢修剔除或報廢，避免產品在使用過程中受環(huán)境應力的作而失效，對提高可靠度有顯著效果。溫度范圍取100℃，循環(huán)次數為1～32次（≤40次），溫變速率為5℃～25℃/min，以參考GJB/Z34-1993表示溫度循環(huán)和隨機振動篩選出缺陷的比例為：溫度循環(huán)篩選發(fā)現(xiàn)缺陷率80%，隨機振動篩選發(fā)現(xiàn)缺陷率20%，主要用于電路板、單元、整機等各層次產品篩選。

快速溫度變化試驗箱特點

1.快速溫變試驗箱經提取歐美及日本設計與制造工藝理念，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率從0%～100%自動調節(jié)壓縮機制冷量，較傳統(tǒng)平衡調溫調濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換水冷式機組設計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時可實現(xiàn)溫變速率5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性條件。

2.可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制（選購加裝濕度模塊），具備高低溫快速溫變（溫度循環(huán)應力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、濕熱交變試驗、恒溫恒濕試驗、結露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產品存在的缺陷和失效得到提前暴露和發(fā)現(xiàn)。

3.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保設備運行期間高可靠性，使設備的綜合性能得到*釋放提升。

4.USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現(xiàn)運行數據交換功能，能與用戶主機連接進行遠程操控，實時了解設備運行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。

線性5℃～25℃/min快速溫度變化試驗箱技術參數

1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標機型）

2.溫度范圍：-70℃～+150℃。

3.濕度范圍：20%～98%RH；10%～98%RH；5%～98%RH。（選購模塊）

4.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性）

5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

6.溫度波動度：±0.5℃。

7.溫度均勻度：±2.0℃。

8.濕度波動度：±1.0%RH。

9.濕度均勻度：±3%RH。

10.溫/濕度值偏差：≤±2.0℃/3%RH。

11.電源：AC380V（五線制）±5%。

11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換設計水冷式制冷機組。

12.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。

13.節(jié)能方式：冷端PID調節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節(jié)能30%。

14.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內箱超溫保護、加熱管空焚保護。

15.快速溫度變化試驗箱標準型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標定制。

 型 號        內箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

快速溫度變化試驗箱參考標準

1.MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選。

2.MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選方法。

3.NABMAT-9492 美軍海軍制造篩選。

4.GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南。

5.GJB 1032-90 電子產品環(huán)境應力篩選方法。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

8.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

9.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

10.GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

11.GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

12.GB/T 2423.3-2016 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

13.GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。

14.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。

15.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。