蔡司三維X射線顯微鏡 納米級Xradia 510/520 Versa產品于2011年上市，歷經近10年的時間考驗，該系列產品已廣泛應用在科研和工業檢測領域，它以其*技術特點、穩定的產品性能成為了廣大用戶所青睞的經典款產品。今天我們推出新款Xraida 515 Versa X射線顯微鏡，保持*的大樣品高分辨率技術優勢的同時，還可實現高達500 nm空間分辨率。該產品通過使用更高分辨率的光學元件，實現分辨率的改善和突破。與此同時，該產品還加入了更多的智能的元素，并且具有更廣闊的拓展能力。

　　在分辨率方面的改進與大樣品高分辨率(RaaD)成像技術的結合，保證了Xradia 515 Versa可對各種類型和尺寸的樣品實現高分辨率成像。Xraida 515 Versa產品可引入智能防撞系統Smartshield，讓操作更加智能、安全。計算機工作站配備上的升級也將大大提升了數據處理能力。此外，Xraida 515 Versa系統還可進行擴展和升級，包括原位接口、4D原位試驗平臺、迭代重構、自動進樣裝置、平板探測器等多個拓展模塊。結合蔡司Xradia平臺的靈活性和穩定性，該產品出色的多功能、多應用領域特點將為您的研究工作快速的提供分析成果。