X射線鍍層測(cè)厚儀功能及應(yīng)用
- 公司名稱(chēng) 深圳市精誠(chéng)儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/3 20:10:43
- 訪問(wèn)次數(shù) 1095
聯(lián)系方式：精誠(chéng)13761400826 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車(chē)及零部件 |
X射線鍍層測(cè)厚儀功能及應(yīng)用
MicropXRF-2020
韓國(guó)先鋒電鍍測(cè)厚儀
儀器規(guī)格型號(hào)如下圖
鍍層測(cè)厚儀X-RAY原理及應(yīng)用
XRF-2020功能
X射線鍍層測(cè)厚儀功能及應(yīng)用
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀
可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
測(cè)量范圍:0.03-35um
測(cè)量精度:±5%,
測(cè)量時(shí)間只需30秒
便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)對(duì)焦，操作非常方便簡(jiǎn)單
應(yīng)用實(shí)例圖示
（1）單鍍層：Ag/xx |
| （2）合金鍍層：Sn-Pb/xx |
| （3）雙鍍層：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
|
|
|
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx |
| （5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化學(xué)鍍層：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
（1）單鍍層：Ag/xx |
| （2）合金鍍層：Sn-Pb/xx |
| （3）雙鍍層：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
|
|
|
（4）合金鍍層：Sn-Bi/xx |
| （5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化學(xué)鍍層：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
|
| Ni |
|
|
|
| 底材 |
|
|
韓國(guó)測(cè)厚儀Micropioneer
XRF-2020
儀器全自動(dòng)臺(tái)面，自動(dòng)雷射對(duì)焦,多實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量
相關(guān)分類(lèi)
該廠商的其他產(chǎn)品
- X-RAY膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片韓國(guó)電鍍測(cè)厚儀
- 標(biāo)準(zhǔn)片鍍層測(cè)厚儀校正片XRF-2020標(biāo)準(zhǔn)樣片
- 電鍍測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片
- 膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY測(cè)厚儀校正片
- XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片韓國(guó)膜厚儀校正片
- 電鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片XRF-2020校正片
- X-RAY電鍍膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)件X射線測(cè)厚儀校正塊
- X射線鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)塊校正片
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)