1MHZ介電常數測試儀上電極半球狀+下電極平板狀結構設計，可以精確定位測量被測樣品，從而提高重復性和穩定性更好。用彈簧設計的夾具系統，改善可能因夾具裝配誤差而導致測量過程中接觸不良的現象；彈簧的彈性經過反復試驗，既不損傷樣品又能實現樣品的良好接觸，確保測量的穩定性和可靠性；“傻瓜式”軟件設計，具有簡單易操作的軟件界面，讓新人也能輕松掌握；

1MHZ介電常數測試儀調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為D0。安裝電感。再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2= D1－D0。

將右下方旋鈕順時針擰到頭。

開機，觸摸電感兩邊的上下按鈕選擇電感；按照提示，通過左下方旋鈕鈕調節通道。

按“搜索”頻率，Q達到最大，自動鎖定頻率。

（如Q比較小，再次按搜索；還可以通過“頻率”下方的上下按鈕鍵手動調節頻率找到最佳諧振頻率；快速按頻率下方的上下鍵，頻率改變自動變快，慢慢按頻率上下按鈕，頻率改變增減1）

取出平板電容器中的樣品（切記不要調節頻率），這時Q值變小（失諧），調節平板電容器，使再諧振（只調節平板電容，不調節頻率，Q再次達到最大），讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為D4= D3－D0。

被測樣品的介電常數：Σ＝D2 / D4

注意事項

1 諧振狀態時，時間不能太長，以免電源過熱。

2 不同電感諧振頻率范圍不同，也可以通過右下方旋鈕（輔助電容）找到選定的諧振頻率。

3 必要時，自動粗略搜索后，須手動慢慢精細調節。

諧振狀態時，時間不能太長，以免電源過熱

不同電感諧振頻率范圍不同：

測損耗角正切值

把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止。

右下方旋鈕順時針擰到頭。

開機，按電感左右的上下鍵選擇電感；按照提示，通過左下方旋鈕調節通道。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Cx值，記為C1。

取出平板電容器中的樣品，調節平板電容器，使它再回到夾住樣品的間距。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Cx值，記為C2。

把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止。

把園筒電容器置于10mm處。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Q值。

先順時針方向，調節園筒電容器，讀取當Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值；后逆時針方向，調節園筒電容器，再次讀取當Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值，取這二個值之差，記為M1。

取出平板電容器中的樣品，調節平板電容器，使它再回到夾住樣品的間距。

概述

數字Q表工作頻率范圍是1kHz～70MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。

它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以專用介質損耗裝置還能對絕緣材料的介電常數和高頻介質損耗進行測量，并完成自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

1.1 特點：

◎ 參數全數字處理和顯示，沒有傳統Q表的電容刻度盤，可以在本機頻率范圍內任意點測試有效電感和Q值。

◎ 本公司創新的自動Q值讀取技術，使測Q分辨率至0.1Q。

◎ DPLL合成發生1kHz～70MHz,測試信號。

◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。

◎ 特制TFT彩屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，電容值，電感值等。

Q值量程自動/手動量程控制。

USB 接口(選購件)。

◎數字化Q值預置，能提高批量測試的可靠性和速度。

所以本儀器使用方便，具有高測量精度和理想的穩定度。能廣泛地用于科研機關、工廠等單位。

2 工作特性

2.1 Q值測量：

2.1.1 Q值測量范圍：5～1,000四位數顯，分辨率0.1Q

2.1.2 Q值量程分檔： 100、316、999三檔，量程可自動切換。

2.1.3 標稱誤差：（※）

頻率范圍：50kHz～10MHz         頻率范圍：10MHz～25MHz

固有誤差：±5%±滿刻度的2%     固有誤差:﹤±8%±滿刻度的2%

工作誤差：±7%±滿刻度的2%     工作誤差:﹤±10%±滿刻度的2%

頻率范圍：25MHz～50MHz

固有誤差：±12%±滿刻度的2%

工作誤差：±15%±滿刻度的2%

 Q值誤差說明：

均值為定標值（按照國家計量單位檢定規程：JJF1073-2000高頻Q表校準規范）。

具體修正系數見第13頁測Q值修正值（K值）表

2.2 電感測量：

2.2.1 測量范圍：20nH～5H，四位數顯。單位分別為：H，mH, μH和nH

2.2.2 測量誤差：﹤3%±20nH。

2.3 調諧電容器特性：

2.3.1 電容量范圍：28～490pF，四位數顯。

2.3.2 誤差：≤±1% ±1pF

2.3.3 顯示分辨率：±0.1pF

2.4 測試信號頻率范圍及誤差：

2.4.1 1kHz～70MHz，數字合成，可數字設置或連續調節，四位數顯。

2.4.2 頻率誤差：＜0.05%

2.5 Q合格指示預置：

2.5.1 預置范圍：Q值測試范圍內都可以。

2.5.2 設置誤差：±2個字。

2.6 正常工作條件：

2.6.1 環境溫度：-0℃～+40℃

2.6.2 相對濕度：＜80%

2.6.3 大氣壓力：750±30mmHg

2.6.4 電源：220V±10%  50Hz±4%

2.7 其它：

2.7.1 消耗功率：約20W。

2.7.2 凈重：7kg

2.7.3 外形尺寸：415(長)×180(高)×170(寬)（mm）。

2.8 儀器成套及備附件

數字Q表-------------------------------------------1臺

電源線-----------------------------------------------------1根

軟件（選購件）---------------------------------------------1根

使用說明書-------------------------------------------------1份

合格證（貼于合格儀器上）-----------------------------------1份

若取n=2，則為：C0=（C1-4C2）/3    （14）

若取不同C1進行多次測量后取一個平均值，則測試結果將較為精確。

5.5.2 自然頻率法：（此法可獲得較準確的結果）

a）將被測線圈接在“Lx”接線柱上。

b）調節調諧器使CR顯示為最大值，如480pF,記為C1。

c）調節信號源頻率（9），使回路諧振，該頻率為f1。

d）取下被測線圈，換上一個能在調諧電容器調節范圍內和十倍于f1頻率諧振的輔助電感。

e）頻率設置于10倍f1位置，調節主調電容器到諧振點。

f）將被測線圈接在“Cx”兩端，調節調諧電容器達諧振，此時視電容讀調低些。

g）再取下被測線圈，調節主調電容達到諧振。

h）重復“f”、“g”直到某一頻率，被測線圈接上“Cx”兩端和不接上去均不改變諧振點，這一頻率為被測線圈的自然諧振頻率f2，它的Co數值： 

注：測量中所需輔助線圈可自制或向Q表產生廠購買電感組。

5.6 電容器參數的測量：

5.6.1 小于460pF電容器的測量：

a）取一個適當的諧振電感連接到“Lx“端。 

b）調諧電容器調到最大值附近，令這個電容是C1，如未知電容是小數值的，C1應調到較小電容值附近，以便得到盡可能高的分辨率。

c）調信號源的頻率，使測試回路諧振，令諧振時Q表的讀數為Q1。

d）將被測電容接在“Cx”兩端，調節調諧電容器，使測試電路再諧振，令新的調諧電容值為C2和指示Q值Q2。

被測電容的有效電容由下式給出：

Cx=C1-C2            （16）

電容器的損耗角正切tgδ由下式給出：

5.4.3 仔細，緩慢調節調諧電容器（13），直至諧振，這時顯示的Q1和C1是有樣品的測得值。

5.4.4 再次按“NET”鍵顯示界面

調節測試裝置測微頭，松開二電極，取出被測樣品。再調節測微頭至有樣品時厚度值處。

5.4.5 再一次調節調諧電容使其諧振，當Q0顯示最大值時，這時顯示的ε, tanδ值即為被測樣品的相對介電常數和損耗角正切值。

5.4.6 重新按一次“NET”鍵，即可進入下一次ε,和tanδ測量程序，同時通過USB口可輸出測量數據，或按“Σ測量”鍵，回復到測電感器Q值和電感值的程序。

5.5 高頻線圈分布電容Co的測量（供參考）：

5.5.1倍頻率法：

如線圈的分布電容較大，可用此法作近似測試。

將被測線圈接在“Lx”接線柱上，調諧電容器到最大電容數值，調節信號源頻率到諧振，令諧振時頻率和調諧電容分別是f1和C1，然后將信號源頻率調到f2（f2=nf1），再調諧電容器到諧振點，此時電容讀數為C2，根據下式即可求出分布電容量。 

3 工作原理：

3.1 “Q”的定義：
 符號“Q”表明一個元件或一個系統的質量，它等于每振蕩一周間貯藏能量對損耗比值的2π倍。按數值計算它是在測試頻率的電抗對電阻的比率。 

通過一個簡單的串聯諧振電路說明“Q”表工作原理。

示回路中，串聯引入一個幅度為e頻率為f地電動勢。諧振時

如果e保持常數（已知電平）一個約定的電壓表連于回路電容的兩端，電壓表的指示直接用回路Q的單位進行定標，從而能直接讀出回路的Q值。

串聯諧振電路中，有效電阻R，除被測電感有效電阻外，還包括Q表內部調諧電容器，指示電壓表，寬帶變壓器和接線柱等損耗等效電阻值。所以Q表測得值將稍低于被測電感的實際的有效Q值。

基于上述理由，為了正確地測量元件的Q值，還需要考慮到測試回路中殘余參數的影響。