TESCAN MAGNA是一款功能極其強大的分析 儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。 MAGNA配置Triglav™型SEM鏡筒，具有超高分 辨率，鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力， 可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用 于不導電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品， 以及半導體光敏樣品等。

MAGNA配備肖特基場發射電子槍，能夠提供 高達40。nA的束流，結合TriglavTMSEM鏡筒出色 的納米尺度分析性能和高穩定性，為鍬分析和長耗 時樣品的分析應用提供了最佳條件。

強大的TrileW 三物鎮系統

       TESCAN MAGNA 配備的 Triglav™ 型 SEM鏡筒,具有TriLensTM三物鏡系統,適用領域 更加多樣化。

       TriSE™和TriBE™探河器系統

       MAGNA配備最新一代TriSE™和 TriBE™探測■系統：包含三個二次電子探測器和 三個背散射電子探測器，可以根據角度和能量的差 異選誨地收集信號。

•  SE 分辨率：0.6 nm@15kV

•  BSE 分辨率：1.6nm@15kV

•  探測器系統，可根據角度和能量的差 異選擇性地收集信號

•  電子束流高達400 nA,電壓也可剛改變， 并保證在所有的分析應用下都能夠獲得良好 的信號

•  具有優異的低束流能最下檢測能力，是表征 表面無鍍膜的生物樣品的理想工具

•  全新的TESCAN Essence™軟件，可自定 義布局，大化工作效率

1.混有金納米顆粒的黑硅，In-Beam SE探測器成像。

2.TiO2納米管，in-column SE探測器成像。

3.碳納米管（約lOOnm）,分布有1-7 nm的金屬納米顆粒，STEM成像后根據 STEM不同類型信號進行上色的偽彩虱

4.腦組織的突觸，in-column BSE探測器成像。