光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。

該系統(tǒng)輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)以及鏈路連接點(diǎn)。其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

　　特點(diǎn)：

• 可定制掃描測(cè)量長(zhǎng)度

• 支持多通道測(cè)量升級(jí)

• 高采樣分辨率和定位精度

• 可定制引纖長(zhǎng)度，便于匹配實(shí)際測(cè)量環(huán)境

  
  

　　應(yīng)用：

• 光纖微裂紋檢測(cè)

• 產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)

• FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
  

• 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

• 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)
  

  
  

　　光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI的參數(shù)：

備注：

1.測(cè)量長(zhǎng)度指設(shè)備最大測(cè)量長(zhǎng)度，在該最大測(cè)量長(zhǎng)度內(nèi)可任意選擇測(cè)量區(qū)間段；

2.測(cè)量時(shí)間與測(cè)試長(zhǎng)度相關(guān)，可任意選擇掃描長(zhǎng)度，測(cè)量時(shí)間1s@2cm、15s@90cm；

3.標(biāo)準(zhǔn)版引纖長(zhǎng)度為5m，可定制其他長(zhǎng)度。