Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡，用于超高分辨率、高質量樣品制備和 3D 表征
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。通過創新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業研究領域高級研究和分析需求的理想解決方案。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡主要特點：
快速、便捷的制備
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現場特定的 TEM 和原子探針樣品。
完整的樣品信息
通過各種集成式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。
精確的樣品導航
高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體應用需求進行定制。
優化您的解決方案
靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應用要求。
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現場特定的 TEM 和原子探針樣品。
超高分辨率成像
使用在泛的樣品范圍（包括磁性和非導電材料）內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。
高質量、多模式亞表面和 3D 信息
使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區域來獲得高質量、多模式亞表面和 3D 信息。
無偽影成像和構成圖案
具有專用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。
規格
| 電子束分辨率 |
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| 電子束參數空間 |
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| 離子光學系統 |
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| 檢測器 |
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| 載物臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺：
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