FE-1050系列場發射掃描電子顯微鏡在新一代電子光學鏡筒的加持下，展現低電壓、高分辨的性能。27個端口拓展、大艙室，輕松應對各類成像、分析需求。極簡化操作、自動化交互、智能化特征識別統計，成倍提高工作效率。以“質”為先，以“優”為本，助力微觀世界的探索與發現。

FE-1050系列高分辨（場發射）掃描電鏡，配備新一代電子光學鏡筒，具備*電子光學性能，重點優化了低電壓下高分辨力，實現1.5nm(1kV)，可以輕松觀測易受電子輻照損傷的樣品。

寬大的主真空腔室，具備通用擴展性，保證兼容任意第三方廠商探測器及附件系統， 多達27個附件端口的數量，是目前可擴展性多的掃描電鏡。

1. FE系列場發射掃描電子顯微鏡廣泛應用于材料和生命科學等領域，能夠為您提供更高分辨率的圖像和更豐富的組織細節拓展性強

2. 豐富的拓展附件，比如能譜儀EDS、背散射電子行射EBSD、電子束感生電流EBIC等，可幫助用戶對樣品的成分、結構信息有著更全面的了解

3. 自動化功能豐富在E系列專業分析平臺上，可通過專用的自動夾雜物分析系統、清潔度和顆粒度自動檢測以及礦物自動分析系統，對自身產品建立在線的質量過程控制。您還可以在可變環境下實時觀察材料的相互作用，借助自動化工作流程實現高效應用。設計先進，穩定性更優

4. E系列電子光學鏡筒幾何學設計能確保在分析工作條件下達到高分辨率。納克微束電鏡在制造加工方面要求非常嚴格的制造工藝及加工裝配檢驗工藝，其抗磁、防震、抗噪及密封性能佳，整體性、穩定性更好。