X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

X射線鍍層測厚儀Thick800A性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；

采用高度定位激光，可自動定位測試高度；

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；

高分辨率探頭使分析結果更加；

良好的射線屏蔽作用；

測試口高度敏感性傳感器保護。

技術指標

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9%。

鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）。

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序。

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm。

重量：90kg。

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器。

保護傳感器。

計算機及噴墨打印機。

產品特點

•應用于各種鍍層厚度的分析；

•穩定高壓電源和X光管，測試結果穩定；

•系統、的分析軟件和分析方法；

•多元的線性回歸法，消除和降低元素間的吸收、增強效應；

•多種準直器和濾光片的自動切換；

•軟硬結合的防輻射設計；

•操作簡便，鍵式操作設計；

•快速無損分析樣品；

•超溫保護，超載保護。

技術規格

•探測器：美Amptek Si-PIN探測器，高速脈沖分析系統

•高壓電源：美Spellman 50w（50kv/MA）

•X射線管：50w側窗鈹窗型X射線管

•能量分辨率：149ev

•測量時間：60-300S

•測量含量范圍：2ppm-99.9%

•交流220v供電設備：1KVA交流凈化穩壓電源

•工作溫度：10-30°C

•測量條件：大氣環境

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。