為了確保復雜光學設計在生產之后的實施，必須使用合格的測量技術。波前測量特別適合于此目的，因為它在空間分辨的基礎上，即在所有場角和整個樣品孔徑上確定圖像質量。與傳統的MTF測試相比，這不僅導致基于點的質量測量，而且在整個孔徑上連續對齊。

高度的靈活性
WaveSensor 和 WaveMaster { 0 的醉大動態范圍可達 2000 λ，允許在鏡頭設計中進行高靈活性的測量。

可重復的高精度
除了高達λ/20（RMS）的測量精度外，由于緊湊、堅固和抗振動設計，還可實現λ/200（RMS）的高重復性。

即時評估
實時地將測量的波前數據的結果與樣品透鏡的結果或設計值進行比較和評估。

產品概述
這些傳感器實時分析整個光學裝置或單個表面，提供波前（PV，RMS），Zernike系數，點擴展函數（PSF），調制傳遞函數（MTF），Strehl比，曲率半徑和非球面系數的測定。因此，不僅可以得出關于質量控制的結論，而且還可以得出關于生產過程的結論。