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JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統

參考價	￥ 9999
訂貨量	≥1件

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 北京精科智創科技發展有限公司
品牌 其他品牌
型號
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2025/4/21 21:54:07
訪問次數 969

產品標簽

介電常數介質損耗

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北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備，安全控制設備，計量檢測設備，科學研究設備，3D打印及空間技術的研發和銷售的高科技公司，我們將同國內單位和高等院校合作，服務于國內和國外廣大客戶，我們將提供更多優質產品，優質服務，共同開拓進取。

我們主要經營的產品有：
1、壓電材料測試儀：ZJ-3型d33測量儀，ZJ-4型壓電測試儀，ZJ-5型積層壓電測試儀，ZJ-6型d33d/d31/d15型準靜態系數測量儀

2、鐵電測試儀：ZT-4A型鐵電測試儀，ZT-4C型鐵電測試儀，JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

3、介電測試儀：低溫介電測試儀，高溫介電測試儀，高低溫介電測試儀

4、熱電材料測試儀：熱電效應測試儀

展開

壓電測試儀,準靜態d33測量儀，d33測量儀，介電測量系統，壓電測量系統，鐵電材料測試儀

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產地類別	國產	應用領域	能源,電子/電池,航空航天,綜合

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統

關鍵詞：介電常數（ε）和介質損耗（tanδ），塊體，粉末

JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統是一款專用介電常數介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。高頻Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

一 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統本設備適用標準
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法

二 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統主要測試材料:
1 固體材料：絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,甲醇,油類等

三 AS2855介電常數及介質損耗測試系統系統組成：

1 主機：JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統主機

功能名稱：	JKZC-JDS04-A主機QBG-3E	JKZC-JDS04-B主機QBG-3F	JKZC-JDS04-C主機AS2853A
信號源范圍DDS數字合成信號	20HZ-1MHz	10KHZ-/70MHZ/110MHz	100KHZ-160MHz
信號源頻率精度:6位有效數	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數,分辨率0.1	4位有效數,分辨率0.1	4位有效數,分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%	<5%	<5%
電感測量范圍:4位有效數,分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差	<5%	<5%	<5%
調諧電容	主電容30-540pF	主電容30-540pF	主電容17-240pF
電容直接測量范圍	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
調諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描	自動掃描	自動掃描
LCD顯示參數	F，L，C，Q，Lt，Ct等	F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等	F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等
殘余電感自動扣除功能	有	有	有
大電容值直接測量顯示功能	測量值可達2.5uF	測量值可達2.5uF	測量值可達25nF
介質損耗系數	精度萬分之一	精度萬分之一	精度十萬分之五
介電常數	精度千分之一	精度千分之一	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm
介電常數	自動測試	自動測試	自動測試
USB接口			支持介電常數輸出以及產生曲線
介電常數		介質損耗
USB接口上位機（介電常數曲線）
2介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
固體電極：材料測量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）　　液體電極：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）

3 LKI-1電感組

電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	諧振頻率范圍 MHz		適合介電常數測試頻率
電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	QBG-3E/F	AS2853A	適合介電常數測試頻率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz
10	0.05μH	±5%	100	5pF			100MHz

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