KAKUHUNTER寫真化學(xué) 紅外透射膜厚監(jiān)測儀

KAKUHUNTER寫真化學(xué) 紅外透射膜厚監(jiān)測儀

 特征

紅外透射膜厚監(jiān)測儀可測量電池隔膜等半透明片材、黑色抗蝕劑、硅等低反射膜的厚度。這是一款紅外吸收式薄膜測厚儀，可用于從實(shí)驗(yàn)室水平到生產(chǎn)過程中100%在線檢測的所有情況。

這是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過 100 多個(gè)波長的光譜同時(shí)精確測量薄膜厚度、密度和成分等多個(gè)參數(shù)。

1測量半透明片、低反射膜、硅等

的厚度，這是使用光學(xué)干涉測量法難以做到的。

2小型光纖探頭

采用小型30mm反射探頭，

可安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線內(nèi)的狹小空間內(nèi)。另外，探頭

與主體僅通過光纖

連接，因此具有優(yōu)異的耐環(huán)境性。

3高速測量100多個(gè)點(diǎn)同時(shí)采樣

950至1650 nm的近紅外波長

可以實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。

可在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測和測量。

由于不會(huì)旋轉(zhuǎn)干涉濾光片等，因此具有出色的耐用性和可靠性。

4厚度測量重復(fù)性0.1%以下（3σ）

5兩種可選的測量算法

測量算法校準(zhǔn)樣品測量目標(biāo)

蘭伯特-比爾法 1 種 僅厚度 

最小二乘回歸法 2種以上 多重（厚度、密度、特定成分的混合量等） 

測量示例（鋰離子電池隔膜）

可以同時(shí)測量厚度和涂層重量。

測量示例（硅基板上的黑色抗蝕劑膜厚）

現(xiàn)在可以測量硅基板上黑色抗蝕劑的厚度，這對(duì)于使用反射光譜的光學(xué)干涉膜厚計(jì)來說是很難做到的。

代理品牌：CCS晰寫速 SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時(shí)計(jì)、NPM日脈

NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

優(yōu)勢品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC

S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野

IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮

HEIDON新東、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

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