美德聲推出的ELM-XS-I 是一款堅固耐用的多功能 LIBS 激光成像分析系統 采用激光技術，可控制和探索當今和未來材料的化學特性；在微觀尺度上探索元素的空間分布。提供一種可視化材質的新方法。

ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統，專為高精度圖像捕捉和處理設計，適用于工業檢測、醫學成像、科學研究等領域。其核心優勢在于高分辨率、快速成像和出色的圖像質量。

主要特點

• 高分辨率：支持高達4K或更高的分辨率，確保圖像細節清晰。

• 快速成像：高速圖像捕捉，適合動態場景。

• 低噪聲：優良的降噪技術，提升圖像質量。

• 寬動態范圍：適應不同光照條件，確保明暗細節。

• 多光譜成像：支持可見光、紅外、紫外等多光譜成像。

• 模塊化設計：便于集成到不同系統中。

技術規格

• 分辨率：3840 x 2160（4K）

• 幀率：60fps（可定制更高幀率）

• 傳感器類型：CMOS/CCD

• 動態范圍：>120dB

• 光譜范圍：400nm - 1000nm（可擴展）

• 接口：USB 3.0, HDMI, GigE

• 功耗：<10W

• 工作溫度：-10°C 至 50°C

應用領域

• 工業檢測：用于生產線上的缺陷檢測和尺寸測量。

• 醫學成像：應用于內窺鏡、顯微鏡等醫療設備。

• 科學研究：用于天文觀測、生物研究等。

• 安防監控：用于高精度監控和識別。

軟件支持

• 圖像處理軟件：提供實時處理、分析和存儲功能。

• SDK：支持多種編程語言，便于二次開發。

• 兼容性：支持Windows、Linux、macOS等操作系統。

產品優勢

• 高性能：滿足高精度和高速度需求。

• 靈活性：模塊化設計適應多種應用場景。

• 易用性：提供全面的軟件支持和開發工具。

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• 美德聲推出的ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統憑借其高分辨率、快速成像和低噪聲等特性，成為工業、醫學和科研領域的理想選擇。其模塊化設計和廣泛兼容性，進一步提升了其應用價值。

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