奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X3
- 公司名稱 深圳山河精測科技有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/2/17 18:51:11
- 訪問次數 259
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工業顯微鏡，超聲波探傷儀，超聲波測厚儀，渦流探傷儀，相控陣探傷儀，工業內窺鏡，雙折射應力儀，三坐標，工業鏡頭，顯微鏡物鏡，非接觸3D測量儀，激光共聚焦顯微鏡，納米壓痕儀，顯微鏡下微取樣系統，無掩膜曝光系統。
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工 |
提供創新型TFM功能的奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X3
信心滿滿，昭然可見
奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X3是一個完備的相控陣工具箱。 其性能強大的工具，包括全聚焦方式（TFM）成像和高級可視化能力，在其高質量成像功能的支持下，可使您更加充滿信心地完成檢測。
威力強大，小巧便攜
OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已
經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的Omn
iScan X3外殼，其強大的聚焦功能得到了
更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利
用64晶片相控陣探頭，進行128晶片孔徑
的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強
性能，迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑
戰，并提升您的潛力，為更廣泛的應用開
發新程序。
改進的相控陣技術
速度可達到OmniScan MX2探傷儀的3倍（至大脈沖重復頻率）
單獨的衍射時差（TOFD）菜單，加快了校準工作流程
800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要
機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創建設置的過程
使用相控陣技術簡化了腐蝕監測
利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優勢，其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。 但是，熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。 OmniScan X3探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單將各種高級功能（閘門同步）組合在一起，可使您更加輕松地獲得準確的數據。 得益于其A掃描同步處理和手動時間校正增益（TCG），您可以快速配置您的設置。
創新、高效的TFM（全聚焦方式）
提前確認TFM（全聚焦方式）聲波覆蓋范圍
聲學影響圖（AIM）工具可以基于您的TFM
（全聚焦方式）模式、探頭、設置和模擬反
射體，即時提供靈敏度的可視化模型。
聲學影響圖（AIM）工具消除了掃查計劃創
建過程中的猜測因素，因為屏幕上會顯示某
個聲波組（TFM模式）的效果圖，使您看
到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行
相應的調整。
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