SGW X-4 顯微熔點儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海儀電物理光學儀器有限公司
- 品牌 儀電物光
- 型號 SGW X-4
- 產地 上海市松江區徐塘路88號7號樓
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/7/30 17:06:46
- 訪問次數 183
產品標簽
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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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類型 | 顯微熔點儀 | 應用領域 | 化工,綜合 |
產品簡介
SGW X-4 顯微熔點儀測定物質的熔點。顯微熔點儀主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
一、儀器結構原理
本儀器是顯微鏡、加熱臺為一體的結構,溫度檢測器為內置式,使用方便,顯微鏡用來觀察樣品受熱后的反應變化及熔化的全過程。加熱臺用電熱絲加熱,并帶有風機,可快速降溫可用載玻片法測量,也可用毛細管測量熔點。
二、技術參數
1、儀器型號:SGW X-4
2、測量范圍:室溫~320 ℃
3、測量方法:目視
4、測量模式:毛細管法、熱臺法
5、最小示值:1℃
6、重復性 :≤200℃±1℃,>200℃±2℃
7、觀察方式:單目顯微鏡
8、放大鏡倍數:40×
9、電源 :220V±22V,50Hz±1Hz
10、儀器尺寸:215×140×395mm
11、儀器凈重:3.5kg
三、特點
1、本儀器可用毛細管和載玻片兩種方法進行測量。
2、根據特殊要求,本儀器也可用載玻片(用蓋玻片代)法進行測量。
3、本儀器采用 LED 數字顯示熔點溫度值。
4、本儀器采用熱臺控制系統和顯微鏡組合成一體的結構簡單可靠,使用方便。
5、升溫速率連續可調。我們建議你采用 1℃/分的升溫速率測量熔點的溫度值,在第一次使用時記錄下 1℃/分的升溫速率時的波段開關和電位器的編號,則以后用此位置就能得到你所要求的升溫速率。
四、并請注意
1、室溫的影響:在同樣波段開關和電位器的編號下,室溫越低,升溫速率越慢。
2、電子元件的影響:電子元件的老化,升溫速率一定時,其電位器的編號會有所變化,只要進行微調即可。編號越大,升溫速率越快。
五、易耗品選購
1、毛細管:90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器
2、標準物質:萘、己二酸、蒽醌等
3、載玻片/蓋玻片:適用儀器WRX-2S、SGW X-4系列
4、服務:提供儀器校驗、3Q認證
六、操作方法
1、對新購儀器,按通電源,打開電源開關從顯微鏡中觀察熱臺中心通光孔是否處于視場中,若左右偏,可松前開顯微鏡鎖緊螺釘,左右調節,居中后,再鎖緊該螺釘。前后不居中,可以松動熱臺兩旁的兩只螺釘,注意不要全部旋下來,只要松動即可,然后前后移動熱臺使其居中即可,再鎖緊兩只螺釘。
2、進行升溫速率調整,開關撥到加熱位置,這時可用秒表式手表來調整,在秒表某一值時,記錄下這時的溫度值,然后秒表轉一圈(一分鐘)時,再記錄下溫度值,這樣連續記錄下去,直到你所要求測量的熔點溫度值,其升溫速率為 1℃/分。如果太快或者太慢,可通過粗調和微調旋鈕來調節,注意即使粗調或微調旋鈕不動,但隨著溫度的升高,其升溫速率會變慢。
3、當使用載玻片法測量時要得到準確的熔點值應先用熔點標準物質進行測溫標定,求出修正值。(修正值=標準值-所測熔點值),作為測量時的修正依據。注意:標準物質的熔點值應和你所要測量的樣品熔點值越接近越好。這時(樣品的熔點值=該樣品實測值+修正值)。
4、待測樣品應放在干燥缸內進行干燥,或進行干燥處理,樣品粉末要進行研細。
5、如需重復測量,應先降溫,其降溫溫度至少要比被測物熔化溫度低 10℃—15℃時,放入樣品,開關撥到加熱位置,即可進行重復測量。
6、測試完畢,應切斷電源,當熱臺冷卻到室溫時,方可將儀器裝入包裝箱內。