全新日本AND內(nèi)置校準砝碼分析電子天平

全新日本AND內(nèi)置校準砝碼分析電子天平

規(guī)格

分析電子天平技術解析

一、定義與核心原理

分析電子天平是一種基于電磁力平衡原理的高精度稱量儀器，通過電磁線圈產(chǎn)生的力與待測物體重力相互作用實現(xiàn)測量，精度可達0.1 mg（萬分之一）至0.01 mg（十萬分之一）。其核心優(yōu)勢包括全自動校準、數(shù)字化顯示及多模式輸出（如RS232接口），適用于實驗室、工業(yè)生產(chǎn)和科研領域。

二、分類與性能特點

按精度分類超微量天平：最大稱量2–5 g，分辨率≤10??，用于納米材料、藥物成分分析。

常量天平：稱量范圍100–500 g，分辨率0.1 mg，適用于常規(guī)化學實驗與工業(yè)質檢。

按功能分類內(nèi)校型：內(nèi)置校準砝碼，一鍵自動校準，減少人為誤差。

外校型：需手動放置外部標準砝碼校準，成本較低。

三、操作與維護規(guī)范

操作流程預熱：通電預熱≥30分鐘，確保傳感器穩(wěn)定性。

校準：使用前需進行零點校準或全量程校準（如加載標準砝碼）。

環(huán)境控制：溫度波動≤1℃/h，濕度50%–75%，避免氣流和震動干擾。

維護要點清潔：定期用軟布擦拭稱盤，避免粉塵堆積影響精度。

校準周期：高頻使用場景建議每月校準一次，低頻率使用每季度校準。

四、典型應用場景

實驗室研究：化學分析中精確稱量試劑（如0.01 mg級催化劑）。

藥物開發(fā)中凍干粉稱重，確保劑量一致性。

工業(yè)生產(chǎn)：鋰電池電極材料配比稱量，誤差控制≤0.1%。

貴金屬（如黃金、鉑金）加工中的質量檢測。

五、選型指南

參數(shù)匹配精度需求：半導體行業(yè)優(yōu)選0.01 mg級，食品檢測可選0.1 mg級。

量程范圍?：根據(jù)樣品重量選擇，如礦石檢測需500 g以上量程天平。

功能擴展需數(shù)據(jù)聯(lián)網(wǎng)時，選擇支持RS232或USB接口的型號。

腐蝕性環(huán)境（如化工實驗室）優(yōu)先選用不銹鋼材質或防腐涂層天平。