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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>磁學測量儀器>其它磁性測量系統>TF ANALYZER 2000E 德國aixACCT鐵電測試儀

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TF ANALYZER 2000E 德國aixACCT鐵電測試儀

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上海麥科威半導體技術有限公司(Shanghai Makeway Semiconductor LTD)是一家專業的微納材料、半導體和微電子材料及器件研發儀器及設備的供應商,所銷售的儀器設備廣泛用于高校、研究所、以及半導體和微電子領域的高科技企業。目前總部在上海,香港、南通、深圳、北京分別設立分公司和辦事處,快速響應客戶需求。同時上海麥科威在快速擴展海外市場,并設立新加坡分公司,輻射東南亞市場。

      上海麥科威半導體技術有限公司主要銷售產品包括:  - 霍爾效應測試儀;  - 快速退火爐;  - 回流焊爐,共晶爐,釬焊爐,真空燒結爐;  - 電子束蒸發鍍膜機,熱蒸發鍍膜機;  - 探針臺,低溫探針臺,微探針臺;  - 金剛石劃片機; - 球焊機,鍥焊機;  - 磁控濺射鍍膜機;  - 原子層沉積系統,等離子增強原子層沉積設備;  - 電化學C-V剖面濃度分析儀(ECV Profiler); - 掃描開爾文探針系統; - 光學膜厚儀; -貼片機-PECVD\CVD;-脈沖激光沉積系統-PLD-納米壓印;-等離子清洗機、去膠機;-反應離子刻蝕RIE; - 光刻機、無掩膜光刻機; - 勻膠機; - 熱板,烤膠板; -少子壽命、太陽能模擬器;-NMR-瞬態能譜儀-外延沉積-等離子清洗機-離子注入-劃片機、裂片機光刻機(針尖/電子束光刻機EBL,紫外光刻機,激光直寫光刻機),鍍膜機(磁控濺射機,電子束蒸發機,化學沉積機,微波等離子沉積機,原子層沉積機  等等…

企業客戶:華為技術有限公司, 深圳市鵬芯微集成電路制造, 深圳清力技術, 安徽格恩半導體, 蘇州稀晶半導體科技, 矽品半導體, 廈門海辰新能源科科, 中核同創(成都)科技, 洛瑪瑞芯片技術(常州),偉創力科技, 奧普科星河北科技,廣東五星太陽能,廣東萬和集團,西安西測股份, 普源精電科技, 普源精電科技股份, 上海蔚來汽車, 北京華脈泰科, 廣醫東金灣高景太陽能科技, 深圳匯佳成電子, 深圳市化訊半導體材料, 珠海珍迎機電, 合肥鼎材科技, 山東金晶節能玻璃, 江蘇云意電氣股份, 廣東風華技股份, 浙江中能合控股集團,固安維信諾,淮安天合光能,浙江老鷹半導體, 四川信通電子科技等。


科研院所/高等院校: 北京航空航天大學, 汕頭大學, 南方醫科大學, 清華大學, 北京大學, 復旦大學, 西北工業大學, 南京醫科大學, 香港中文大學, 香港城市大學, 蘇州大學, 深圳職業技術學院, 南京大學合肥國家試驗室, 上海交通大學醫學院, 華南理工大學,華東師范大學,江南大學,重慶26所, 深圳大學, 南方科技大學, 深圳技術大學, 理化技術研究所, 中國工程物理研究院激光聚變研究中心, 廣東粵港澳大灣區黃埔材料研究院, 桂林電子科技大學, 上海硅酸鹽研究所, 中國航天五院,中科合肥智慧農業協同創新研究院等。

 

 

 

 

 

 

 

 

半導體設備,快速退火爐,原子層沉積,鍵合機,光刻機

德國aixACCT鐵電測試儀介紹:

自1995年以來,德國aixACCT Systems一直致力于開發用于材料表征和壓電材料組件測試的模塊化系統,專業的團隊以及與我們的研究和工業網絡的合作為我們提供了市場上壓電材料表征技術。作為技術和經驗豐富的專家,我們不斷開發表征解決方案,以便您能夠快速可靠地實現您的目標。我們的動力是不斷突破可能性的極限。我們重新思考技術并不斷調整它們以滿足您的需求。作為技術和專家,我們為大學、研發工程和生產提供解決方案。

德國aixACCT鐵電測試儀技術指標:

來自德國aixACCT公司的鐵電分析儀,包括眾多型號及選配件,模塊化設計的aixACCT鐵電分析儀具有優異的擴展性。該系統可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。

TF ANALYZER 1000緊湊型鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用,適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。

主要技術指標:

電壓范圍:±12V標配 (可擴展到+/-10kV)

測試頻率:0.01Hz~1000Hz

疲勞測試頻率:50kHz

最小脈沖寬度:20μs

輸出電阻:50Ω

電容:100nF

輸出電流:+/-50mA

電流放大器:電流大小范圍:1nA~1A

可測試功能:

測試軟件aixPlorer基于Windows 7操作系統,操作極為便捷

測試功能:

- 動態電滯回線 (Hysteresis):測試頻率0.01Hz~1000Hz

- 疲勞 (Fatigue):50KHz

- 保持力 (Retention)

- 印跡 (Imprint)

- 漏電流測試 (Leakage Current)

- C(V) 曲線測試

- 壓電性能測試 (蝴蝶曲線、d33曲線)

- 變溫性能測試 (Thermo Measurement)

TF ANALYZER 2000E模塊化鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。

模塊化設計的TF Analyzer 2000 E具有優異的擴展性。

FE模塊-鐵電標準測試;

MR模塊-磁阻和鐵性材料測試;

RX模塊-弛豫電流測試;

DR模塊-自放電測試。

測試基本單元:包括內置完整的專用計算機主機和測試版路、運算放大器、數據處理單元等,Windows 7操作系統、鐵電分析儀專用測試軟件等。

FE模塊標準測試功能:

Dynamic Hysteresis動態電滯回線測試頻率(標準FE模塊0.001Hz~5kHz);

Static Hysterestic靜態電滯回線測試;

PUND脈沖測試;

Fatigue疲勞測試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測試;

Thermo Measurement變溫測試功能。

FE模塊可選測試功能:

C-V curve電容-電壓曲線;

Piezo Measurement壓電性能測試;

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試;

In-situ Compensation原位補償;

DLCC動態漏電流補償功能。

技術說明:

電壓范圍:+/-25V(可選的附加高壓放大器可擴展至+/-10KV);

電滯頻率:5kHz(標準FE模塊);

最小脈沖寬度:2μs;

最小上升時間:1μs;

電流放大范圍:1pA~1A;

負荷電容:1μF;

輸出電流峰值:+/-1A。

可擴展部件:

高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS等。

MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。

此模塊提供連續電流激勵和測試,樣品上的電壓降通過高精度四點測試。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應。

該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。

DR模塊用于研究電介質材料的自漏電性。

由于測試條件非常接近實際情況,因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。

針對工業方面的應用,TF Analyzer 2000E提供了256個自動測試的通道,大大擴展了該儀器的測試功能。

以上所有的模塊可根據您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。

TF ANALYZER 3000E高速型模塊化鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 3000E是一款擴展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。

模塊化設計的TF Analyzer 3000具有優異的擴展性。

FE模塊-鐵電標準測試;

MR模塊-磁阻和鐵性材料測試;

RX模塊-弛豫電流測試;

DR模塊-自放電測試。

測試基本單元:包括內置完整的專用計算機主機和測試版路、運算放大器、數據處理單元等,Windows 7操作系統、鐵電分析儀專用測試軟件等。

FE模塊標準測試功能:

Dynamic Hysteresis動態電滯回線測試頻率(增強型FE模塊250kHz,高速增強型FE模塊1MHz);

Static Hysterestic靜態電滯回線測試;

PUND脈沖測試;

Fatigue疲勞測試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測試;

Thermo Measurement變溫測試功能。

FE模塊可選測試功能:

C-V curve電容-電壓曲線;

Piezo Measurement壓電性能測試;

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試;

In-situ Compensation原位補償;

DLCC動態漏電流補償功能;

Impedance Measurement 阻抗測試 (僅適用于高速增強型)。

技術說明:

電壓范圍:+/-25V(可選的附加高壓放大器可擴展至+/-10KV);

電滯頻率:增強型FE模塊250kHz,高速增強型FE模塊1MHz;

最小脈沖寬度:50ns;

最小上升時間:10ns;

疲勞頻率:16MHz;

電流放大范圍:1pA~1A;

負荷電容:1nF;

輸出電流峰值:+/-1A。

可擴展部件:

高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS、阻抗分析儀等。

MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。

此模塊提供連續電流激勵和測試,樣品上的電壓降通過高精度四點測試。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應。

該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。

DR模塊用于研究電介質材料的自漏電性。

由于測試條件非常接近實際情況,因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。

針對工業方面的應用,TF Analyzer 3000提供了256個自動測試的通道,大大擴展了該儀器的測試功能。

以上所有的模塊可根據您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。






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